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方阻測量時探頭的關系

方阻也稱為方塊電(dian)(dian)阻，指一個正(zheng)方形的薄膜導(dao)電(dian)(dian)材料邊到邊間的電(dian)(dian)阻作(zuo)為描述。

涂層類，鍍膜(mo)類產品基(ji)本上(shang)都是通過測(ce)量(liang)方阻(zu)的形(xing)式來衡量(liang)樣品的厚(hou)度(du)。

方塊電阻有(you)一個特性，即任意大小的(de)(de)正方形邊到(dao)邊的(de)(de)電阻都是(shi)一樣的(de)(de)

影響方(fang)阻的因(yin)素(su)主要有以下幾個方(fang)面：

探針與邊緣的距離；

探針之間(jian)的等距離

一(yi)般測(ce)量(liang)方阻的儀(yi)器有(you)手持式和臺式兩種，這也是(shi)目前(qian)市場(chang)上比較常見的，

手(shou)持式的(de)FT-392手持式四探針測試儀(yi);臺式的FT-331四探針(zhen)方阻測試儀(yi)；

手持(chi)式(shi)的(de)精度一般(ban)都比臺(tai)式(shi)的(de)低(di)些，臺(tai)式(shi)的(de)量程寬些，當然(ran)，精度也高很多。

方(fang)阻儀測量特別注意對(dui)探頭的(de)保(bao)(bao)護，探針(zhen)的(de)保(bao)(bao)護是(shi)非常重(zhong)要的(de)，我們很多使用者，從出現探針(zhen)被弄壞(huai)，探針(zhen)丟失，探針(zhen)沒有彈(dan)性，以及探針(zhen)形變(bian)等，這些(xie)都(dou)是(shi)由于保(bao)(bao)管不到(dao)位造成的(de)，正常情況下，一付探針(zhen)的(de)使用壽(shou)命可以達到(dao)3年左右，比(bi)較頻繁的使用條件下。

方阻(zu)測試對環境(jing)要求也是(shi)比較高的，建議在相當恒定的環境(jing)下測量(liang)，減少溫度(du)，濕度(du)偏差及其他不(bu)確定性(xing)操作的數(shu)據偏差，

同時建議在(zai)測試中，采用PC軟件(jian)來做分析(xi)，這樣(yang)可以觀察過程數據變化及數據的保存等，都是不錯的選擇。