表面電阻率測試儀可用于測量各種織物、地毯、薄膜以及其他絕緣材料的表面比電阻(表面電阻率)，表面比電阻的大小可間接反映試驗材料表面靜電泄漏時間的長短，從而反映試驗材料的帶靜電性能。
表面電阻率測試儀測(ce)量采(cai)用三電極(ji)法對試(shi)(shi)樣進行測(ce)試(shi)(shi)，其(qi)試(shi)(shi)驗裝(zhuang)置主要有平板式電極(ji)裝(zhuang)置和高(gao)阻(zu)計兩部分組(zu)成。基本原理是(shi)對試(shi)(shi)樣加入不(bu)同擋(dang)位的(de)直流電壓，流經(jing)試(shi)(shi)樣的(de)微(wei)弱電流用標準電阻(zu)取樣放大(da)后，從高(gao)阻(zu)計上讀出。數字直接顯(xian)示出電阻(zu)值(zhi),精度高(gao)、顯(xian)示迅速、穩(wen)定性好(hao)、讀數方便(bian)。
根據歐姆定律，被(bei)測(ce)電阻(zu)(zu)Rx等于(yu)施加電壓(ya)V除以(yi)通(tong)過的(de)電流(liu)I。傳統的(de)高阻(zu)(zu)計(ji)的(de)工作(zuo)原理是(shi)測(ce)量(liang)電壓(ya)V固定，通(tong)過測(ce)量(liang)流(liu)過取樣(yang)電阻(zu)(zu)的(de)電流(liu)I來得到(dao)電阻(zu)(zu)值。
從歐姆(mu)定律(lv)可(ke)以(yi)看出，由于電(dian)(dian)流I是(shi)與電(dian)(dian)阻(zu)成(cheng)反(fan)比，而不(bu)是(shi)成(cheng)正比，所以(yi)電(dian)(dian)阻(zu)的顯示值是(shi)非(fei)線性的，即電(dian)(dian)阻(zu)無窮(qiong)大時(shi)，電(dian)(dian)流為零，即表頭的零位處(chu)是(shi)∞，其附近的刻度非(fei)常密，分辨率很低。
整個刻度(du)是(shi)非線性的。又由于測量不同的電(dian)阻(zu)時，其電(dian)壓V也會有(you)些變化，所以普通的高阻(zu)計是(shi)精(jing)度(du)差(cha)、分(fen)辨率(lv)低。
本(ben)儀器(qi)是同時測(ce)(ce)出電(dian)(dian)(dian)阻兩端的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)V和(he)流(liu)過(guo)電(dian)(dian)(dian)阻的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)流(liu)I，通過(guo)內部的(de)(de)(de)大規模集成電(dian)(dian)(dian)路(lu)完(wan)成電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)除以電(dian)(dian)(dian)流(liu)的(de)(de)(de)計算，然(ran)后(hou)把所得(de)到的(de)(de)(de)結果經過(guo)A/D轉換后(hou)以數字顯示(shi)出電(dian)(dian)(dian)阻值，即(ji)便是電(dian)(dian)(dian)阻兩端的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)V和(he)流(liu)過(guo)電(dian)(dian)(dian)阻的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)流(liu)I是同時變(bian)(bian)(bian)化，其顯示(shi)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻值不象普通高阻計那樣因被(bei)測(ce)(ce)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)V的(de)(de)(de)變(bian)(bian)(bian)化或電(dian)(dian)(dian)流(liu)I的(de)(de)(de)變(bian)(bian)(bian)化而變(bian)(bian)(bian)，所以，即(ji)使測(ce)(ce)量電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)、被(bei)測(ce)(ce)量電(dian)(dian)(dian)阻、電(dian)(dian)(dian)源電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)等發生變(bian)(bian)(bian)化對其結果影響不大，其測(ce)(ce)量精(jing)度很高()，從(cong)理論(lun)上講(jiang)其誤差(cha)可以做(zuo)到零，而實際誤差(cha)可以做(zuo)到千分之幾(ji)或萬分之幾(ji)。
