方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值，該數值大小可直接換算為熱紅外輻射率。
方(fang)塊電阻的(de)計算(suan)方(fang)法：
方塊(kuai)電(dian)阻：Rs=ρ/t(其中ρ為塊(kuai)材的(de)電(dian)阻率(lv),t為塊(kuai)材厚(hou)度）
或者寫成電導率的表達式(shi)：Rs = 1/(σt)
這樣 在計(ji)算塊材電阻的時候，我們就可以(yi)利用方塊電阻乘(cheng)以(yi)長寬比(bi)例(li)得(de)到，計(ji)算過程與維度無關(guan)：
R=Rs*L/W(L為塊材(cai)長度(du)，W為塊材(cai)寬度(du)）
方塊電阻測試儀是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、 ITO 導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。大顯示屏，直觀度數，穩定性好，可以外接其他控制單元，與其他系統集成使用；適用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜等。
