表面電阻率測試儀在很多方面都有所應用，比較典型的應用有以下幾種：
1.測(ce)量防(fang)靜電(dian)鞋、導電(dian)鞋的電(dian)阻值
2.測(ce)量防(fang)靜電(dian)(dian)材料的電(dian)(dian)阻及電(dian)(dian)阻率
3.測量計(ji)算(suan)機房用活動(dong)地(di)板的(de)系統(tong)電阻(zu)值
4.測(ce)量絕緣材料電(dian)阻(zu)(率)
5.光(guang)電二極管暗(an)電流測量
6.物理，光(guang)學(xue)和材料研究
表面(mian)電阻(zu)率測試儀用于高阻(zu)測量時一定要嚴(yan)格按使用方法進行，否則(ze)有可能造成儀器*損壞或電人。具體步驟如下：
1、應(ying)在(zai)“Rx”兩端開路時調(diao)(diao)零(主機開機)。如接在(zai)電阻箱或被測(ce)量(liang)(liang)物體上時調(diao)(diao)零后(hou)測(ce)量(liang)(liang)會產生(sheng)很(hen)大的誤差(cha)。一(yi)般一(yi)次調(diao)(diao)零后(hou)在(zai)測(ce)試過程中不需再調(diao)(diao)零，但(dan)改變(bian)測(ce)量(liang)(liang)電壓后(hou)可能要(yao)重(zhong)新(xin)調(diao)(diao)零。
2、禁止將“Rx”兩端短路，以免(mian)微電流放大器受大電流沖(chong)擊。
3、在測(ce)(ce)試過(guo)程中不要隨意改(gai)(gai)動(dong)測(ce)(ce)量(liang)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)，隨意改(gai)(gai)動(dong)測(ce)(ce)量(liang)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)可能(neng)因電(dian)(dian)壓(ya)(ya)的(de)過(guo)高或(huo)電(dian)(dian)流(liu)過(guo)大損壞被測(ce)(ce)試器件或(huo)測(ce)(ce)試儀器，而且有的(de)材(cai)料(liao)是(shi)非(fei)線性的(de)，即電(dian)(dian)壓(ya)(ya)與電(dian)(dian)流(liu)是(shi)不符合歐(ou)姆定律，有改(gai)(gai)變(bian)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)時由于電(dian)(dian)流(liu)不是(shi)線性變(bian)化，所以(yi)測(ce)(ce)量(liang)的(de)電(dian)(dian)阻(zu)也會變(bian)化。
4、測量時從低(di)次檔(dang)(dang)逐漸拔(ba)往(wang)高(gao)次檔(dang)(dang)
每撥(bo)一(yi)次稍(shao)停(ting)留1～2秒以便觀察顯示(shi)(shi)(shi)數(shu)字，當(dang)(dang)(dang)有(you)顯示(shi)(shi)(shi)值時應停(ting)下，記錄當(dang)(dang)(dang)前的數(shu)字即是(shi)被測電(dian)阻(zu)值。若顯示(shi)(shi)(shi)“1”時，表示(shi)(shi)(shi)欠量程應往(wang)高(gao)(gao)次檔(dang)拔。直到有(you)顯示(shi)(shi)(shi)數(shu)字時為(wei)止(zhi)。當(dang)(dang)(dang)有(you)顯示(shi)(shi)(shi)數(shu)字時不能再往(wang)高(gao)(gao)次檔(dang)撥(bo)，否(fou)則(ze)有(you)可(ke)能損(sun)壞儀器(qi)(機內有(you)過電(dian)流(liu)保護電(dian)路)。除104Ω檔(dang)之外(wai)，當(dang)(dang)(dang)顯示(shi)(shi)(shi)低(di)于1.99，表示(shi)(shi)(shi)過量程應換(huan)低(di)檔(dang)!
5、在(zai)測量(liang)高(gao)阻(zu)時，應采用屏(ping)蔽(bi)盒(he)將(jiang)被(bei)測物體(ti)屏(ping)蔽(bi)。在(zai)測量(liang)大(da)于1010Ω以上時，為防止外界干(gan)擾面而引起讀數不穩。
6、接通電源后(hou)，手(shou)指不能觸及高(gao)壓線的金屬部分。
表面電(dian)阻率測(ce)試儀有(you)二連(lian)根(gen)線(xian)(xian)(xian)：高(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)(xian)(紅)和微(wei)電(dian)流測(ce)試線(xian)(xian)(xian)。在使(shi)用時要注意高(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)(xian)，開(kai)機后人不能(neng)觸及高(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)(xian)，以(yi)免(mian)電(dian)人或麻手。
7、測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)過程中不(bu)能觸摸微(wei)電(dian)流測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)端(duan)。微(wei)電(dian)流測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)端(duan)zui怕受(shou)到大(da)電(dian)流或(huo)人體感應電(dian)壓及靜電(dian)的沖擊。所(suo)以(yi)在開機后和測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)過程中不(bu)能與微(wei)電(dian)流測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)端(duan)接觸，以(yi)免損(sun)壞儀表。
8、每次測(ce)量(liang)完(wan)時(shi)應(ying)將(jiang)表面電(dian)阻率測(ce)試儀量(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)開關撥回“104”檔(dang)再(zai)進行下(xia)次測(ce)試。在測(ce)量(liang)時(shi)應(ying)逐漸將(jiang)量(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)開關撥到高阻檔(dang)，測(ce)量(liang)完(wan)時(shi)應(ying)將(jiang)電(dian)流(liu)電(dian)阻量(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)、電(dian)壓(ya)量(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)開關撥回低(di)檔(dang)。以確保(bao)下(xia)次開機時(shi)量(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)開關處在低(di)阻量(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)檔(dang)。
9、大(da)部分絕緣材(cai)料，特別(bie)是防靜電材(cai)料的(de)電阻值在加電壓后會有一定變化(hua)而(er)引起數字變化(hua)。
由于表面電阻率(lv)測試儀的分辯率(lv)很高，因而會引起(qi)顯示值的末(mo)尾幾位數(shu)也變化(hua)，這(zhe)不是(shi)儀器本身的問題，而是(shi)被測量對象的導電機(ji)理復雜(za)而使得阻值有些(xie)變化(hua)。在這(zhe)種(zhong)情(qing)況下往(wang)往(wang)取2位有效數(shu)就夠了(le)。
