半導體電阻率測試儀是為了適應當前迅速發展中的高分子半導電納米材料電阻率測試需要，參照有關標準設計的。半
導體電阻率測試儀是根據四探針原理，適合半導體器材廠，材料廠用于測量半導體材料(片狀、棒狀)的體電阻率，方塊電阻(簿層電阻)，也可以用作測量金屬薄層電阻，經過對用戶、半導體廠測試的調查，根據美國ASTM標準的規定，在電路和探頭方面作了重大的修改和技術上的許多突破，它更適合于半導體器材廠工藝檢測方面對中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要，成為普及型的電阻率測試儀，具有測量精度高，穩定性好，輸入阻抗高，使用方便、價格低廉等特點。
儀器(qi)的(de)電(dian)(dian)流輸出(chu)為10 µA - 100 mA，電(dian)(dian)阻率(lv)測(ce)試范(fan)圍(wei)為10-2- 105Ωcm，直接(jie)采用數字(zi)顯示。半導(dao)體(ti)電(dian)(dian)阻率(lv)測(ce)試儀采用通(tong)用的(de)電(dian)(dian)流-電(dian)(dian)壓降法(fa)即(ji)四端(duan)子測(ce)量法(fa)，可以消除電(dian)(dian)極與(yu)粉(fen)末(mo)接(jie)觸(chu)產生的(de)接(jie)觸(chu)電(dian)(dian)阻誤(wu)差，還可以消除聯接(jie)系統(tong)所(suo)帶來的(de)誤(wu)差， 克(ke)服了(le)以往傳統(tong)的(de)二端(duan)測(ce)量粉(fen)末(mo)電(dian)(dian)阻率(lv)儀器(qi)的(de)弊病，真(zhen)實、準(zhun)確地測(ce)量出(chu)粉(fen)末(mo)樣品的(de)電(dian)(dian)阻率(lv)，因此重復性(xing)好。
半(ban)導體(ti)電(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)試儀(yi)的可靠性和穩定性大(da)大(da)增強，更(geng)方便于用(yong)戶(hu)，而且價(jia)格低廉、實惠。本儀(yi)器(qi)具(ju)有測(ce)量(liang)(liang)精度高，穩定性好(hao)(hao)，重復性好(hao)(hao)，使用(yong)方便等特(te)(te)點，并有自校功能。配置不同的測(ce)試架可以(yi)(yi)對半(ban)導體(ti)粉(fen)末(mo)、高分子納米(mi)粉(fen)末(mo)和固(gu)態(tai)金屬進行電(dian)(dian)阻(zu)、電(dian)(dian)阻(zu)率多用(yong)途的測(ce)量(liang)(liang)。適(shi)用(yong)于有機、無機半(ban)導體(ti)粉(fen)末(mo)材(cai)料(liao)(包括納米(mi)級)的電(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)量(liang)(liang)，也可以(yi)(yi)測(ce)量(liang)(liang)固(gu)體(ti)半(ban)導體(ti)材(cai)料(liao)，特(te)(te)別適(shi)合于太陽能多晶硅(gui)、硅(gui)粉(fen)質(zhi)量(liang)(liang)的測(ce)量(liang)(liang)、分選(xuan)和質(zhi)量(liang)(liang)控制.電(dian)(dian)阻(zu)率值直接(jie)數字顯示由具(ju)有高精度加壓系統,高度測(ce)量(liang)(liang)的測(ce)試臺和儀(yi)器(qi)組成。
儀(yi)器主要包括電(dian)氣箱(xiang)和(he)(he)測試(shi)架(jia)兩(liang)部分(fen)，電(dian)氣測試(shi)部分(fen)由(you)高精度直(zhi)流數字電(dian)壓(ya)表和(he)(he)直(zhi)流恒定電(dian)流源組成(cheng)。測試(shi)架(jia)為(wei)壓(ya)力(li)傳感(gan)器，加壓(ya)機(ji)構和(he)(he)粉末標準容器組成(cheng)。壓(ya)力(li)機(ji)構采(cai)用手(shou)動操作、壓(ya)力(li)平穩。
半導體電阻(zu)率測試儀(yi)是適(shi)用于碳素廠、焦化廠、石(shi)化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗(yan)和分析(xi)固態、粉態和納米樣品(pin)質量的(de)一(yi)種重要工具。是電阻(zu)率測試儀(yi)*的(de)設(she)備之一(yi)。
