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雙電(dian)四探針測試(shi)儀如何測試(shi)導電(dian)橡(xiang)膠及薄膜材料(liao)

雙電測(ce)數(shu)字式四探(tan)針(zhen)測(ce)試儀(yi)是運用直線或方形四探(tan)針(zhen)雙位測(ce)量。

標準(zhun)要求：

該(gai)儀器設計符合單晶硅物(wu)理測(ce)(ce)試方(fang)法(fa)標準并參(can)考美國 A.S.T.M 標準。利(li)用電流(liu)探(tan)針(zhen)、電壓探(tan)針(zhen)的(de)變換，進行(xing)(xing)兩次電測(ce)(ce)量(liang)，對(dui)數據進行(xing)(xing)雙電測(ce)(ce)分(fen)析，自動消(xiao)除(chu)樣品幾何尺(chi)寸、邊界效應以(yi)及探(tan)針(zhen)不等距(ju)和機械游(you)移(yi)等因素對(dui)測(ce)(ce)量(liang)結果(guo)的(de)影響，它(ta)與單電測(ce)(ce)直線或方(fang)形四探(tan)針(zhen)相比(bi)，大大提(ti)高度，特別是(shi)適用于斜置式四探(tan)針(zhen)對(dui)于微區的(de)測(ce)(ce)試。

1.1主機正面

設置鍵  系統鍵                                    

  USB接口       液(ye)晶(jing)顯示(shi)器       顯示鍵 數(shu)字鍵     觸發(fa)鍵             

           ;                                               

                                                               確定

                                                                      

                                                             退格

電(dian)源開關                         接(jie)地      測試(shi)接線端口(kou)

                            功(gong)能選擇鍵   方向(xiang)鍵       確(que)定鍵

是檢驗和(he)(he)分析導體材料和(he)(he)半導體材料質量(liang)的(de)一種(zhong)重要(yao)的(de)工(gong)具。本儀(yi)器配置(zhi)(zhi)各類測(ce)量(liang)裝(zhuang)置(zhi)(zhi)可以(yi)測(ce)試不同材料。液晶顯示，無需人工(gong)計算，并(bing)帶有(you)溫度補償功能(neng)，電阻率單位自(zi)(zi)動選擇，儀(yi)器自(zi)(zi)動測(ce)量(liang)并(bing)根據(ju)測(ce)試結果自(zi)(zi)動轉換量(liang)程，無需人工(gong)多次和(he)(he)重復設置(zhi)(zhi)。采用(yong)(yong)高精度AD芯片(pian)控制(zhi)，恒流輸(shu)(shu)出，結構合理、質量(liang)輕便，運(yun)輸(shu)(shu)安全(quan)、使用(yong)(yong)方便；選配：配備(bei)軟件可以(yi)由電腦操控，并(bing)保存和(he)(he)打(da)印數據(ju)，自(zi)(zi)動生成(cheng)報表；本儀(yi)器采(cai)用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shi)顯示液晶顯示：電阻(zu)、電阻(zu)率(lv)(lv)、方阻(zu)、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓(ya)、探(tan)針形(xing)狀、探(tan)針間距、厚(hou)度 、電導率(lv)(lv)，壓(ya)強 配(pei)置不同的測(ce)試(shi)治具(ju)可以(yi)滿足不同材料(liao)的測(ce)試(shi)要求(qiu)。測(ce)試(shi)治具(ju)可以(yi)根據產品及測(ce)試(shi)項目(mu)要求(qiu)選購.

五、操作流程和測試(shi)步驟

1.使用前期準(zhun)備--測試前準備工作：

1.1.開機預(yu)熱：將220V電源(yuan)(yuan)插頭插入電源(yuan)(yuan)插座，打開電源(yuan)(yuan)開關，讓儀器預熱15分鐘，保(bao)證測(ce)試數據穩定。若測(ce)試儀無法正常啟(qi)動，請按以(yi)下步驟(zou)檢查：

①檢查電源(yuan)線是(shi)否接觸良好；

②檢查后面板上的電源(yuan)開(kai)關是否已經打開(kai)

③檢查保險(xian)絲是(shi)否熔斷(duan)，如有必要，請更換保險(xian)絲

• 如經上(shang)述檢查(cha)無誤后，測(ce)試儀仍(reng)未正常啟動，請(qing)本公司進行解決。

1.2.準備好被測(ce)物(wu)，鏈接好測(ce)試探頭，把測(ce)試探頭接口與主機(ji)接口相連接，并(bing)鎖定，防止松動或接觸(chu)不(bu)良而對測(ce)試結(jie)果造成影響.

1.3.接(jie)通電(dian)源，開(kai)啟電(dian)源開(kai)關，待儀器液晶(jing)顯(xian)示屏上(shang)顯(xian)示出廠家(jia)和產品(pin)信(xin)息后，如圖3，按(an)“顯(xian)示”鍵進入，

1.4.進(jin)入(ru)測(ce)試(shi)功能界(jie)面如(ru)圖4、圖5；如(ru)測(ce)試(shi)方阻時(shi)，請選擇液(ye)晶(jing)顯示屏(ping)又側對應 的功能按(an)鍵“方阻”，則(ze)進(jin)入(ru)方阻測(ce)試(shi)界(jie)面；如(ru)測(ce)試(shi)其他材(cai)料(liao)時(shi)，請選擇“材(cai)料(liao)”則(ze)進(jin)入(ru)材(cai)料(liao)電(dian)阻，電(dian)阻率，電(dian)導(dao)率測(ce)試(shi)儀界(jie)面。

1.5.設置好被測物所需(xu)之(zhi)參(can)數，把被測物放于測試治具(ju)平臺上操作(zuo)(zuo)，測試完(wan)畢直接顯示測試數據。如配(pei)置軟件(jian)(jian)，軟件(jian)(jian)操作(zuo)(zuo)說明書(shu)同安裝軟件(jian)(jian)在一起，請注(zhu)意查看操作(zuo)(zuo)步驟(zou).

以下分(fen)別講解方阻和材料測試的(de)設置(zhi)

2.四(si)探針雙電方(fang)阻測試步驟(zou)

2.1.上述步驟中1項，使用前期準備(bei)

2.2 把被測物測試所需要(yao)之參數數據設定(ding)：

2.2.1依據不同之測試樣品(pin)，選(xuan)擇(ze)被(bei)測試電(dian)(dian)流(liu)，電(dian)(dian)流(liu)設置：按(an)(an)方(fang)(fang)向鍵移動(dong)光(guang)標至“電(dian)(dian)流(liu)”功(gong)能，按(an)(an)“設置”鍵進(jin)入(ru)；再按(an)(an)“左右”方(fang)(fang)向鍵選(xuan)擇(ze)電(dian)(dian)流(liu)數據，選(xuan)擇(ze)完畢(bi)后按(an)(an)“確(que)定(ding)”鍵進(jin)行(xing)確(que)認。按(an)(an)照以上步驟和方(fang)(fang)法(fa)選(xuan)擇(ze)電(dian)(dian)壓、長(chang)度(du)單位、探針(zhen)形狀設定(ding)、溫度(du).

2.2.2.探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)間(jian)(jian)距數據的輸入，探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)間(jian)(jian)距出廠(chang)時已(yi)經(jing)標定，無(wu)需再(zai)次(ci)測量，探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)頭(tou)上(shang)有詳細(xi)的探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)數據資料，探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)間(jian)(jian)距的設(she)(she)置(zhi)：將(jiang)光標移動(dong)至“探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)間(jian)(jian)距”按(an)(an)“設(she)(she)置(zhi)”鍵進入，通過面(mian)(mian)板上(shang)面(mian)(mian)的“數字”按(an)(an)鍵輸入數據按(an)(an)“確定”鍵進行確認；按(an)(an)照以(yi)上(shang)方(fang)法和步(bu)驟設(she)(she)定”厚度“，注意厚度和探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)間(jian)(jian)距修正(zheng)系數表(biao)已(yi)經(jing)設(she)(she)置(zhi)在儀器(qi)程(cheng)序中，自動(dong)修正(zheng)，無(wu)需再(zai)次(ci)輸入和查(cha)詢表(biao)格。

2.3.測試(shi)探頭和(he)測試(shi)平(ping)臺(tai)操(cao)作

選配(pei)測試平(ping)臺的(de)將被測物(wu)放(fang)在測試平(ping)臺上，調(diao)節探(tan)頭(tou)(tou)探(tan)針與樣品良(liang)好(hao)接觸，探(tan)頭(tou)(tou)有(you)二(er)種(zhong)，一種(zhong)是探(tan)針是彈簧(huang)針型，一種(zhong)是硬針而探(tan)頭(tou)(tou)內腔(qiang)有(you)彈簧(huang)；探(tan)頭(tou)(tou)有(you)方型和(he)直線(xian)型兩種(zhong)結構；調(diao)節測試平(ping)臺上的(de)水平(ping)定(ding)位(wei)角，保證水平(ping)儀水準在中(zhong)心位(wei)置；放(fang)置好(hao)被測物(wu)品，后壓下探(tan)頭(tou)(tou)至被測物(wu)，帶數據穩定(ding)后讀取.

方阻測試(shi)時，在測試(shi)時電流的選擇也不同

根據國標GB/T1552-1995和根據(ju)ASTM F374-84標準方法測量方塊電阻所需要的(de)電流值(zhi)如下表所示

方塊電阻測試時電流量程選(xuan)擇表

方阻測試時(shi)根據用戶所選擇的電(dian)壓測量低壓6V，中壓15V，高壓32V；材料測試(shi)的(de)時候一直是6V