北京粉末電阻率測試儀*本測試(shi)臺參照有關(guan)標準進行設計，可以對半導體粉(fen)末、高分子納米(mi)粉(fen)末和固態金屬粉(fen)末進行電阻、電阻率多用途的測量。

    組(zu)成(cheng)及(ji)特點(dian)：測(ce)(ce)試(shi)臺為探頭、加壓(ya)機構、粉末(mo)標準容器、壓(ya)力檢測(ce)(ce)、厚(hou)度(du)檢測(ce)(ce)等單元組(zu)成(cheng)。壓(ya)力機構采(cai)用手動操作(zuo)，壓(ya)力平穩可調，電子數碼顯(xian)示壓(ya)力值。本(ben)儀器可一(yi)(yi)邊加壓(ya)同步測(ce)(ce)試(shi)，可方便測(ce)(ce)試(shi)不同壓(ya)力下粉末(mo)的(de)(de)導電性(xing)能曲線(xian)，也可以單獨作(zuo)為粉末(mo)壓(ya)制成(cheng)片的(de)(de)工(gong)具使用，成(cheng)片后(hou)可脫模取出，用普通四探針法測(ce)(ce)試(shi)相關參(can)數！本(ben)儀器具有測(ce)(ce)量精度(du)高，操作(zuo)簡便、穩定性(xing)好，重復性(xing)好，一(yi)(yi)機多用使用方便等特點(dian)。

    本儀器(qi)采用通用的(de)電(dian)流、電(dian)壓(ya)(ya)四端子測(ce)(ce)量法（兩個電(dian)流和電(dian)壓(ya)(ya)電(dian)極(ji)同(tong)時(shi)和樣(yang)品(pin)接觸(chu)），可以(yi)消除(chu)電(dian)極(ji)與(yu)導線(xian)導通電(dian)阻(zu)產生的(de)誤差(cha)，克服了傳(chuan)統的(de)二(er)端測(ce)(ce)量粉末電(dian)阻(zu)率儀器(qi)的(de)弊病，可以(yi)真實地、準確(que)地測(ce)(ce)量出粉末樣(yang)品(pin)的(de)電(dian)阻(zu)率，因此(ci)重(zhong)復性好(hao)。測(ce)(ce)試參(can)數時(shi)同(tong)步(bu)檢(jian)測(ce)(ce)壓(ya)(ya)力和高度，也是區別于以(yi)往舊款同(tong)類測(ce)(ce)試臺新特點！便于研(yan)究材料的(de)特性曲線(xian)！

   本(ben)儀(yi)器適用于碳(tan)素廠(chang)、焦化廠(chang)、石化廠(chang)、粉末(mo)冶金廠(chang)、高等院校(xiao)、科研部門(men)、是檢驗和分析(xi)固態(tai)和粉態(tai)樣品質量的一種重要(yao)優良工具(ju)粉末(mo)電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)儀(yi)

北京粉末電阻率測試儀*

一、電阻測量范圍： 
電阻率：    10-4～200X103Ω-cm
方塊電阻：  10-3～200X 104Ω/□
電  ; 阻：    10-4～200X104Ω

分辨率：  zui小0.1μΩ
測量誤差±（0.05%讀數±5字）
2、測量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
   測量精(jing)度±（0.1%讀數）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續可調，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA, 1000mA
⑶誤差：±0.2%讀數±2字

4. 主(zhu)機  240mm（長）×180 mm（寬）×80mm（高）

二、測試臺技術參數

1. 試樣粒度：試樣粒度：40目以下—60目以上（標準篩網）
2. 試樣容器：內經：Φ11.28mm（S=1.0cm²）

高度：0～20mm可調,帶高度尺監測，測量誤差：±0.02mm。
3、測試壓強

標準壓強：P₀=4Mpa±0.05Mpa，合壓力40kg±0.5 kg（S=1.0cm²）。
   壓強量程：20Mpa, P=0～20 Mpa可調，合壓力0～200Kg,（S=1.0cm²）
4、壓(ya)力機構采用手動操作、壓(ya)力平穩(wen)可調(diao)。

電子數碼顯(xian)示壓力值！四位有效顯(xian)示數0～200Kg，分別率±0.1 kg！

5、測試臺外形：250mm（前寬）×220 mm（后長）×540mm（總高）
    ;   重 ;     量：10Kg

6、方式：數字顯示電阻、電阻率、壓力單位(wei)、小數點(dian)自動顯示

7、電(dian)源：220±10% 50HZ—60HZ 功(gong)率消耗 < 60W