一、描述：電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀流程是根據國標GB11017-89所(suo)規定的測(ce)試方法和技(ji)術指標而設計的，用來測(ce)試高壓(ya)電(dian)纜半導電(dian)內外屏蔽層的電(dian)阻率，采(cai)用四端子電(dian)流—電(dian)壓降壓法原理，能(neng)夠有效地(di)排除測試(shi)中產生(sheng)的接觸電(dian)阻(zu)和(he)引線電(dian)阻(zu)的影響，通(tong)過的測試(shi)架能(neng)夠對不同(tong)直徑的電(dian)纜迅速(su)而準確(que)地(di)測量其屏蔽層(ceng)的電(dian)阻(zu)。

二、儀(yi)器介紹：儀器由電(dian)阻率測(ce)試儀和測(ce)試治具(ju)兩大部分組(zu)成，測(ce)試治具(ju)有夾持加壓機構(gou)，能夠良好地夾緊(jin)各種(zhong)不(bu)同直徑的屏蔽電(dian)纜(lan)，具(ju)有環(huan)形準確度達(da)0.3%的電(dian)(dian)(dian)位(wei)電(dian)(dian)(dian)極(ji)和(he)電(dian)(dian)(dian)流電(dian)(dian)(dian)極(ji)確保(bao)儀器取樣(yang)位(wei)置精度高(gao)、使用(yong)方便、外形輕巧(qiao)，適應在常溫和(he)恒溫箱(xiang)中測(ce)量。電(dian)(dian)(dian)阻率測(ce)試儀為液(ye)晶顯示，直(zhi)流恒定電(dian)(dian)(dian)流源，輸出電(dian)(dian)(dian)流從(cong)0到1000mA連續可(ke)調，測量(liang)電阻率自(zi)動計(ji)算直接數(shu)字(zi)顯示儀器，具有溫(wen)度補償功能。

三、適(shi)用范圍(wei)：本儀器適合電(dian)(dian)纜研究(jiu)部門(men)，電(dian)(dian)纜廠(chang)，對于高壓交聯(lian)電(dian)(dian)纜半導(dao)電(dian)(dian)屏(ping)蔽層電(dian)(dian)阻(zu)率的(de)測試是必須具備的(de)測量(liang)手段(duan)。

電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀流程

四、參數和技術(shu)指標

1．電(dian)阻率：10-8～2*106Ω-cm；

2. 電   阻(zu)：10-8～2X106Ω；

2.1分(fen)辨(bian)率：zui小0.1μΩ ；

2.2測(ce)量(liang)誤差±（0.05%讀(du)數±5字）
3.測量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V ；

3.1測(ce)量(liang)精度±（0.1%讀數）

3.2分(fen)辨率：  0.1uV  1uV 10uV  100uV
4.電(dian)流輸出：直(zhi)流電(dian)流 0～1000mA 可調(diao)，輸(shu)入220V。
4.1量程：1μA，10μA，100?A，1mA，10mA，1000mA, 
4.2誤差：±0.2%讀數±2字

5. 測試治(zhi)具： 電纜導(dao)電屏蔽層直徑：10mm—35mm

　　電纜絕緣屏蔽層直徑(jing)：50mm—140mm

　　電位電極間距：50mm±0.25mm

　　電流電極與電位電極距離>25mm

　.配(pei)備多用(yong)途多功能電(dian)極

瑞柯儀(yi)器還生產更多直流低電阻測(ce)(ce)試儀(yi)及(ji)電阻率測(ce)(ce)試儀(yi)

粉末電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)(shi)儀；體積電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)(shi)儀；表面電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)(shi)儀；半導體電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)(shi)儀