一、描述：電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀參數資料是根據國標GB11017-89所(suo)規定的測(ce)(ce)試(shi)方法和技(ji)術指標(biao)而設(she)計的，用(yong)來測(ce)(ce)試(shi)高壓電(dian)(dian)(dian)(dian)纜半導電(dian)(dian)(dian)(dian)內(nei)外(wai)屏(ping)蔽層的電(dian)(dian)(dian)(dian)阻率，采(cai)用(yong)四端子電(dian)(dian)(dian)(dian)流—電(dian)壓降壓法(fa)原理(li)，能夠有(you)效(xiao)地排除(chu)測試中產生的(de)接觸電(dian)阻和引線電(dian)阻的(de)影(ying)響，通過的(de)測試架能夠對不同直徑的(de)電(dian)纜迅速而準(zhun)確地測量其屏蔽層的(de)電(dian)阻。

二(er)、儀(yi)器(qi)介紹：儀(yi)器(qi)由電阻率測試(shi)儀(yi)和測試(shi)治具(ju)兩大部分組成，測試(shi)治具(ju)有夾持加壓機構(gou)，能夠良好(hao)地(di)夾緊各種不同直(zhi)徑的屏(ping)蔽電纜(lan)，具(ju)有環形準確度達0.3%的電(dian)位電(dian)極(ji)和電(dian)流電(dian)極(ji)確保儀器取樣位置精度高、使(shi)用方便、外形輕巧，適應在常溫和恒溫箱中測(ce)量。電(dian)阻率測(ce)試(shi)儀為液晶顯示(shi)，直流恒定電(dian)流源，輸出電(dian)流從0到1000mA連續可調，測量電阻率自動(dong)計算直接數(shu)字顯(xian)示儀(yi)器，具有溫度補償功能(neng)。

三、適用(yong)范圍(wei)：本(ben)儀器適合電纜研究(jiu)部門，電纜廠，對于高壓(ya)交聯電纜半(ban)導電屏蔽層電阻(zu)率的(de)測(ce)試是必須具備的(de)測(ce)量手段(duan)。

電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀參數資料

四、參數和技術指標

1．電阻(zu)率：10-8～2*106Ω-cm；

2. 電   阻：10-8～2X106Ω；

2.1分辨率：zui小(xiao)0.1μΩ ；

2.2測量誤差±（0.05%讀數±5字(zi)）
3.測量(liang)電壓量(liang)程： 2mV   20mV  200mV 2V ；

3.1測(ce)量精度±（0.1%讀數）

3.2分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
4.電(dian)流(liu)(liu)輸出(chu)：直流(liu)(liu)電(dian)流(liu)(liu) 0～1000mA 可調，輸入(ru)220V。
4.1量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA, 
4.2誤差：±0.2%讀(du)數±2字(zi)

5. 測試治具： 電纜導電屏蔽層直徑：10mm—35mm

　　電纜絕(jue)緣屏蔽(bi)層(ceng)直徑：50mm—140mm

　　電位電極間(jian)距：50mm±0.25mm

　　電流電極與電位電極距離>25mm

　.配備多(duo)用途多(duo)功能電極(ji)

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粉末電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)儀；體(ti)積電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)儀；表面電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)儀；半導體(ti)電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)儀