一、描述：半導體材料電阻率測試儀的數據管理是根據國標GB11017-89所規定的測試方法和技術指標而設計的，用(yong)來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層(ceng)的電阻率，采(cai)用(yong)四(si)端(duan)子(zi)電流—電(dian)壓(ya)降壓(ya)法原(yuan)理(li)，能(neng)夠有(you)效地(di)(di)排除(chu)測試(shi)中產生的(de)接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)和引(yin)線(xian)電(dian)阻(zu)的(de)影響，通過(guo)的(de)測試(shi)架能(neng)夠對不(bu)同直徑(jing)的(de)電(dian)纜(lan)迅(xun)速(su)而(er)準確地(di)(di)測量其屏蔽層(ceng)的(de)電(dian)阻(zu)。

二、儀器介紹：儀(yi)器由電(dian)(dian)阻(zu)率測試儀(yi)和測試治(zhi)具(ju)(ju)兩大(da)部(bu)分組成，測試治(zhi)具(ju)(ju)有(you)夾(jia)持加壓機構(gou)，能夠(gou)良好地夾(jia)緊各種不(bu)同直徑的屏蔽電(dian)(dian)纜，具(ju)(ju)有(you)環形(xing)準確度達0.3%的電(dian)(dian)位電(dian)(dian)極和電(dian)(dian)流(liu)電(dian)(dian)極確保儀器取樣位置(zhi)精度高、使用方(fang)便、外形輕(qing)巧，適應在常(chang)溫(wen)和恒(heng)溫(wen)箱中測量。電(dian)(dian)阻(zu)率(lv)測試儀為液晶顯示，直流(liu)恒(heng)定電(dian)(dian)流(liu)源，輸出電(dian)(dian)流(liu)從(cong)0到1000mA連續可(ke)調(diao)，測量電阻率自動計算(suan)直(zhi)接數(shu)字顯(xian)示(shi)儀器，具(ju)有溫度補償功能(neng)。

三、半導體材料電阻率測試儀的數據管理適用范圍：本儀器適(shi)合電(dian)纜研究部門，電(dian)纜廠，對于(yu)高壓交聯電(dian)纜半導(dao)電(dian)屏(ping)蔽層電(dian)阻(zu)率的(de)測試是(shi)必須(xu)具備的(de)測量手段。

四、參數和技術指標

1．電阻(zu)率：10-8～2*106Ω-cm；

2. 電(dian)   阻(zu)：10-8～2X106Ω；

2.1分辨率：zui小(xiao)0.1μΩ ；

2.2測量誤(wu)差±（0.05%讀(du)數±5字）
3.測(ce)量(liang)電(dian)壓量(liang)程： 2mV   20mV  200mV 2V ；

3.1測量(liang)精度±（0.1%讀數）

3.2分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
4.電流(liu)輸出：直流(liu)電流(liu) 0～1000mA 可調，輸入220V。
4.1量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA, 
4.2誤(wu)差：±0.2%讀數±2字

5. 測試(shi)治具： 電(dian)纜導電(dian)屏蔽層(ceng)直徑(jing)：10mm—35mm

　　電纜絕緣屏蔽(bi)層直徑(jing)：50mm—140mm

　　電位電極間距：50mm±0.25mm

　　電(dian)(dian)流電(dian)(dian)極(ji)與電(dian)(dian)位電(dian)(dian)極(ji)距離>25mm

　.配備多(duo)用途(tu)多(duo)功能(neng)電極

瑞柯儀器還生產更(geng)多(duo)直流(liu)低電阻(zu)測試儀及電阻(zu)率測試儀

粉末電(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)；體(ti)積電(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)；表面電(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)；半導體(ti)電(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)