服務熱線
0574-27976124
| 品牌 | ROOKO/瑞柯 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 自動化度 | 手動 | 產地類別 | 國產 |
| 應用領域 | 醫療衛生,環保,食品,文體,能源 |
單電四探針方阻電阻率測試儀廠家
適(shi)用范圍Widely used：
1.覆蓋膜(mo);導(dao)(dao)電(dian)高分子膜(mo)，高、低溫電(dian)熱膜(mo);隔熱、導(dao)(dao)電(dian)窗膜(mo) 導(dao)(dao)電(dian)(屏蔽)布、裝(zhuang)飾(shi)膜(mo)、裝(zhuang)飾(shi)紙;金屬(shu)化標簽、合(he)金類箔(bo)膜(mo);熔煉、燒結(jie)、濺射、涂覆、涂布層，電(dian)阻式、電(dian)容式觸屏薄膜(mo);電(dian)極涂料，其他半導(dao)(dao)體(ti)材(cai)料、薄膜(mo)材(cai)料方阻測試(shi)
2.硅(gui)晶塊、晶片電(dian)(dian)阻率及(ji)擴(kuo)散層、外延層、ITO導(dao)(dao)電(dian)(dian)箔(bo)(bo)膜(mo)、導(dao)(dao)電(dian)(dian)橡(xiang)膠等(deng)材(cai)料方塊電(dian)(dian)阻 半導(dao)(dao)體材(cai)料/晶圓、太(tai)陽能電(dian)(dian)池、電(dian)(dian)子元器件，導(dao)(dao)電(dian)(dian)薄(bo)膜(mo)（ITO導(dao)(dao)電(dian)(dian)膜(mo)玻璃(li)等(deng)），金屬膜(mo)，導(dao)(dao)電(dian)(dian)漆膜(mo)，蒸發鋁膜(mo)，PCB銅箔(bo)(bo)膜(mo)，
3.EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導(dao)電性油漆，導(dao)電性糊狀物，導(dao)電性塑料，導(dao)電性橡膠，導(dao)電性薄膜，金屬薄膜，
4.抗靜電材料(liao)(liao)， EMI 防護材料(liao)(liao)，導電性(xing)(xing)纖維，導電性(xing)(xing)陶瓷(ci)等
單電四探針方阻電阻率測試儀廠家
功能描述(shu)Description：
- 四探(tan)針組合雙(shuang)電測量方法
- 液(ye)晶顯示，自動(dong)測量(liang)(liang)，自動(dong)量(liang)(liang)程(cheng)，自動(dong)系數補償.
- 集成電路(lu)系統、恒流輸(shu)出.
- 選配：PC軟件進行數據管理(li)和(he)處理(li).
- 提供中文(wen)或(huo)英文(wen)兩(liang)種(zhong)語言(yan)操(cao)作界(jie)面選擇
參照標準(zhun)：
1.硅片電阻率測量的標(biao)準(zhun)（ASTM F84）.
2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.
3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單(dan)晶電阻率測定(ding)直流兩探(tan)針法》.
4.GB/T 1552-1995《硅、鍺(zang)單晶電阻率測定直流(liu)四探(tan)針法(fa)》.
雙電組合測試方法(fa)：
利用(yong)電(dian)(dian)(dian)流探(tan)針(zhen)、電(dian)(dian)(dian)壓探(tan)針(zhen)的(de)(de)變換(huan)，進行兩次電(dian)(dian)(dian)測量，對數據進行雙電(dian)(dian)(dian)測分析(xi)，解決樣品幾何(he)尺寸、邊(bian)界效應以及探(tan)針(zhen)不等(deng)距和機械游移(yi)等(deng)因素對測量結果的(de)(de)影響(xiang)，適用(yong)于(yu)斜置式四探(tan)針(zhen)對于(yu)微區的(de)(de)測試。
規格(ge)型(xing)號/ model | FT-341 | FT-342 | FT-343 | FT-345 | FT-346 | FT-347 |
1.方塊電(dian)阻sheet resistance | 10-5～2×105Ω/□ | 10-4～2×105Ω/□ | 10-3～2×105Ω/□ | 10-3～2×104Ω /□ | 10-2～2×105Ω/□ | 10-2～2×104Ω/□ |
2.電(dian)阻率(lv)Resistivity | 10-6～2×106Ω-cm | 10-5～2×106Ω-cm | 10-4～2×106Ω-cm | 10-4～2×105Ω-cm | 10-3～2×106Ω-cm | 10-3～2×106Ω-cm |
3.測(ce)試電流(liu)Test current | 0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA，10mA，100mA | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA | 0.1μA.μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA | 0.1μA、1μA、10μA，100µA，1mA，10mA，100mA | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA |
4.電(dian)流精度Current | ±0.1% accuracy | ±0.2% accuracy | ±0.2% accuracy | ±0.3% accuracy | ±0.3% accuracy | ±0.3% accuracy |
5.電阻精度Resistance | ≤0.3% accuracy | ≤0.3% accuracy | ≤0.3% accuracy | ≤0.5% accuracy | ≤0.5% accuracy | ≤0.5% accuracy |
6.顯(xian)示(shi)讀數(shu)display | 屏(ping)液晶(jing)顯示：電(dian)阻(zu)、電(dian)阻(zu)率、方阻(zu)、溫度(du)、單位換算、溫度(du)系數、電(dian)流、電(dian)壓(ya)、探(tan)針形狀、探(tan)針間距、厚度(du) 、電(dian)導率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity | |||||
7.測(ce)試方式 | test mode雙電(dian)測量Double electrical measurement | |||||
8.電源Power | 輸(shu)入: AC 220V±10%.50Hz 功(gong) 耗：<30W | |||||
9.誤(wu)差errors | ≤3%（標準樣片結果） | |||||
10.選(xuan)購(gou)功(gong)能choose to buy | 選購(gou)1.pc軟(ruan)件； 選購(gou)2.方形探頭； 選購(gou)3.直線形探頭； 選購(gou)4.測試(shi)平臺；5.標準電阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform | |||||
11.測試探頭test probe | 探針間距(ju)選購：1mm；2mm；3mm三種規(gui)格; 探針材質選購：碳化鎢針;白(bai)鋼針；鍍金磷銅半球(qiu)形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. | |||||
