四探針方阻電阻率測試儀檢測范圍

功(gong)能描述Description：

• 四探針組合雙電(dian)測量方法
• 液(ye)晶(jing)顯示，自(zi)動(dong)測量(liang)，自(zi)動(dong)量(liang)程，自(zi)動(dong)系數補(bu)償.
• 集成(cheng)電路系(xi)統(tong)、恒(heng)流輸(shu)出.
• 選配：PC軟(ruan)件進行數(shu)據管理和處(chu)理.
• 提供中文或英(ying)文兩種語言操作(zuo)界面選擇

?參照(zhao)標準：

1.硅片(pian)電阻率測量(liang)的標準（ASTM F84）.

2.GB/T 1551-2009 《硅(gui)單晶(jing)電阻率測定方法(fa)》.

3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電(dian)阻率測定直流兩(liang)探針法》.

4.GB/T 1552-1995《硅(gui)、鍺單晶電阻率測(ce)定直流四(si)探針法》.

四探針方阻電阻率測試儀檢測范圍

雙電組(zu)合(he)測試方法：

利用(yong)(yong)電(dian)流探(tan)針、電(dian)壓探(tan)針的變換，進(jin)行(xing)兩次電(dian)測量，對(dui)數據進(jin)行(xing)雙電(dian)測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(ying)以及探(tan)針不等(deng)距和(he)機(ji)械游移等(deng)因素對(dui)測量結(jie)果的影響，適用(yong)(yong)于斜置式(shi)四探(tan)針對(dui)于微區的測試。

適(shi)用范圍Widely used：

1.覆蓋膜(mo);導(dao)電(dian)(dian)(dian)高分子膜(mo)，高、低溫電(dian)(dian)(dian)熱(re)膜(mo);隔(ge)熱(re)、導(dao)電(dian)(dian)(dian)窗膜(mo) 導(dao)電(dian)(dian)(dian)(屏蔽)布、裝飾膜(mo)、裝飾紙;金(jin)屬(shu)化標簽、合金(jin)類箔膜(mo);熔煉(lian)、燒(shao)結、濺(jian)射、涂覆、涂布層，電(dian)(dian)(dian)阻(zu)式、電(dian)(dian)(dian)容式觸屏薄膜(mo);電(dian)(dian)(dian)極(ji)涂料(liao)(liao)，其他半導(dao)體材料(liao)(liao)、薄膜(mo)材料(liao)(liao)方阻(zu)測試

2.硅晶塊、晶片電(dian)阻率及(ji)擴散層、外延層、ITO導(dao)(dao)電(dian)箔膜(mo)(mo)、導(dao)(dao)電(dian)橡膠等(deng)材料方塊電(dian)阻  半導(dao)(dao)體材料/晶圓(yuan)、太(tai)陽能電(dian)池、電(dian)子元器(qi)件，導(dao)(dao)電(dian)薄膜(mo)(mo)（ITO導(dao)(dao)電(dian)膜(mo)(mo)玻(bo)璃等(deng)），金(jin)屬膜(mo)(mo)，導(dao)(dao)電(dian)漆(qi)膜(mo)(mo)，蒸發鋁膜(mo)(mo)，PCB銅箔膜(mo)(mo)，

3.EMI涂(tu)層等物質的薄(bo)層電阻(zu)與電阻(zu)率  導(dao)電性(xing)(xing)油漆，導(dao)電性(xing)(xing)糊狀物，導(dao)電性(xing)(xing)塑(su)料，導(dao)電性(xing)(xing)橡(xiang)膠，導(dao)電性(xing)(xing)薄(bo)膜，金屬薄(bo)膜，

4.抗靜電(dian)材料， EMI 防護材料，導電(dian)性纖維(wei)，導電(dian)性陶瓷等