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簡要(yao)描述:FT-340系列方(fang)阻測試儀采用四探針雙電測量方(fang)法,適(shi)用于生產企(qi)業(ye)、高等院校、科研部門(men),是檢(jian)驗(yan)和(he)分析(xi)導(dao)(dao)體(ti)材(cai)料(liao)和(he)半導(dao)(dao)體(ti)材(cai)料(liao)質(zhi)量的(de)一種重(zhong)要的(de)工(gong)具。本(ben)儀器(qi)配置各類測量裝置可(ke)以測試不同材(cai)料(liao)。液晶顯示,無需人(ren)工(gong)計算,并帶有溫度補(bu)償(chang)功(gong)能(neng)
品牌 | ROOKO/瑞柯 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 環保,生物產業,農業,能源,印刷包裝 |
FT-340系列方阻測試儀
本儀(yi)器(qi)本儀(yi)器(qi)采用四探(tan)針雙(shuang)電測(ce)量(liang)方法(fa),
適用(yong)于生產企業、高等(deng)院校、科研(yan)部(bu)門(men),是檢驗和分析導(dao)體(ti)材(cai)料和半導(dao)體(ti)材(cai)料質(zhi)量的(de)一種重要的(de)工具。
本儀器配置各類測(ce)量裝置可(ke)以測(ce)試不同(tong)材(cai)料。液晶(jing)顯示,無(wu)需(xu)(xu)人(ren)(ren)工(gong)(gong)計算,并帶有溫度補償功(gong)能(neng),電阻(zu)率(lv)單位自(zi)動選擇,儀器自(zi)動測(ce)量并根(gen)據測(ce)試結果自(zi)動轉換(huan)量程,無(wu)需(xu)(xu)人(ren)(ren)工(gong)(gong)多次和重復設置。
采用高精度AD芯片控(kong)制,恒(heng)流輸出(chu),結構合理、質量輕便,運(yun)輸安全、使用方便;選配:配備軟件可(ke)以由電(dian)腦操控(kong),并(bing)保(bao)存(cun)和打印數(shu)據,自動生(sheng)成報表(biao);本(ben)儀器(qi)采(cai)用4.3吋(cun)大液晶屏幕顯(xian)示,
同時顯示(shi)液晶顯示(shi):電(dian)阻(zu)、電(dian)阻(zu)率、方阻(zu)、溫(wen)度、單位換算(suan)、溫(wen)度系數、電(dian)流、電(dian)壓、探針形狀、探針間距、厚(hou)度 、電導率
,配(pei)置(zhi)不同的(de)測試(shi)(shi)(shi)治(zhi)具可(ke)以滿足不同材料的(de)測試(shi)(shi)(shi)要(yao)求。測試(shi)(shi)(shi)治(zhi)具可(ke)以根(gen)據(ju)產品(pin)及測試(shi)(shi)(shi)項目要(yao)求選購(gou).
雙電(dian)測(ce)數字式(shi)四探(tan)針(zhen)測(ce)試儀是(shi)運(yun)用直線或(huo)方(fang)形四探(tan)針(zhen)雙位測(ce)量。
該(gai)儀(yi)器設計(ji)符合單晶硅(gui)物理測試方(fang)法標準(zhun)并(bing)參考(kao)美國 A.S.T.M 標準(zhun)。利用電(dian)流探(tan)針(zhen)、電(dian)壓(ya)探(tan)針(zhen)的(de)變換(huan),進(jin)行(xing)兩次電(dian)測量,
對(dui)數據進行雙電(dian)測(ce)分析,自(zi)動(dong)消(xiao)除樣品幾(ji)何尺寸、邊(bian)界效應(ying)以及探針不(bu)等距和機械游移等因素對(dui)測(ce)量(liang)結果(guo)的影響,
FT-340系列方阻測試儀
它與單電測直線或(huo)方形四(si)探針相比,大大提高度,特別是(shi)適用于(yu)斜置式四(si)探針對(dui)于(yu)微(wei)區的測試。
廣泛用于:覆(fu)蓋膜(mo);導電(dian)(dian)(dian)高(gao)(gao)分(fen)子膜(mo),高(gao)(gao)、低(di)溫電(dian)(dian)(dian)熱膜(mo);隔熱、防輻(fu)射導電(dian)(dian)(dian)窗膜(mo) 導電(dian)(dian)(dian)(屏蔽)布(bu)、裝飾膜(mo)、裝飾紙;金屬化標簽、
合(he)金類箔(bo)膜;熔煉、燒結、濺射、涂(tu)覆、涂(tu)布層(ceng),電(dian)阻(zu)(zu)式(shi)、電(dian)容式(shi)觸屏薄膜;電(dian)極(ji)涂(tu)料(liao),其他(ta)半導體(ti)材(cai)料(liao)、薄膜材(cai)料(liao)方阻(zu)(zu)測試
硅(gui)晶(jing)塊、晶(jing)片(pian)電阻率及擴散(san)層(ceng)、外延層(ceng)、ITO導(dao)電箔(bo)膜、導(dao)電橡膠(jiao)等(deng)材料方塊電阻 半導(dao)體材料/晶圓、太(tai)陽(yang)能電(dian)池、
電子元器(qi)件,導電薄膜(ITO導電膜(mo)玻璃等),金屬膜(mo),導電漆膜(mo),蒸發鋁膜(mo),PCB銅箔(bo)膜,
EMI涂(tu)層(ceng)(ceng)等物質的薄層(ceng)(ceng)電(dian)(dian)阻(zu)與電(dian)(dian)阻(zu)率 導(dao)電(dian)性(xing)油漆(qi),導(dao)電(dian)性(xing)糊狀物,導(dao)電(dian)性(xing)塑料,導(dao)電(dian)性(xing)橡膠(jiao),導(dao)電(dian)性(xing)薄膜,金屬薄膜,
抗(kang)靜電(dian)材(cai)料(liao), EMI 防護(hu)材(cai)料(liao),導(dao)電(dian)性纖維(wei),導(dao)電(dian)性陶瓷等
規格型(xing)號 | FT-341 | FT-342 | FT-343 | FT-345 | FT-346 | FT-347 |
1.方塊電阻范圍 | 10-5~2×105Ω/□ | 10-4~2×103Ω/□ | 10-3~2×105Ω/□ | 10-3~2×103Ω/□ | 10-2~2×105Ω/□ | 10-2~2×103Ω/□ |
2.電阻(zu)率范圍 | 10-6~2×106Ω-cm | 10-5~2×104-cm | 10-4~2×106Ω-cm | 10-4~2×104-cm | 10-3~2×106Ω-cm | 10-3~2×106Ω-cm |
3.測(ce)試電流范圍(wei) | 0.1μA,μA,0μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 0.1μA,μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA |
4.電流精度(du) | ±0.1%讀數 | ±0.2%讀數 | ±0.2%讀數 | ±0.3%讀數 | ±0.3%讀數 | ±0.3%讀(du)數 |
5.電阻精度 | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% |
6.顯(xian)示讀數(shu) | 大屏液(ye)晶(jing)顯示:電(dian)阻、電(dian)阻率(lv)、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電(dian)流、電(dian)壓、探針形狀、探針間距(ju)、厚度 、電導率 | |||||
7.測試方式 | 雙(shuang)電測(ce)量 | |||||
8.工作(zuo)電源 | 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W | |||||
9.整機不確定性誤差(cha) | ≤3%(標準樣片結果) | |||||
10.選購(gou)功能 | 選(xuan)購(gou)(gou)1.pc軟件; 選(xuan)購(gou)(gou)2.方形探(tan)頭(tou); 選(xuan)購(gou)(gou)3.直線形探(tan)頭(tou); 選(xuan)購(gou)(gou)4.測試平(ping)臺 | |||||
11.測試探頭 | 探針(zhen)間距選購(gou):1mm;2mm;3mm三種規格(ge); 探針(zhen)材質選購(gou):碳化鎢針(zhen);白鋼針(zhen);鍍金磷銅半球形針(zhen) |
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