雙電測電四探針方阻電阻率測試儀參數

本儀(yi)器采用4.3吋大(da)液(ye)(ye)晶屏幕顯示(shi)，同(tong)時(shi)顯示(shi)液(ye)(ye)晶顯示(shi)：電阻(zu)、電阻(zu)率、方阻(zu)、溫度、單位換算(suan)、溫度系數、電流、電壓、探(tan)(tan)針形狀、探(tan)(tan)針間距、厚度 、電導率，配置不同(tong)的測(ce)(ce)試(shi)治(zhi)具可以滿足(zu)不同(tong)材料的測(ce)(ce)試(shi)要求。測(ce)(ce)試(shi)治(zhi)具可以根(gen)據(ju)產品(pin)及測(ce)(ce)試(shi)項目要求選購.

 本(ben)儀器(qi)本(ben)儀器(qi)采用(yong)四探(tan)針雙電測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)方(fang)法(fa)，適(shi)用(yong)于(yu)生產(chan)企(qi)業、高等(deng)院(yuan)校、科(ke)研部門(men)，是檢(jian)驗(yan)和(he)分析導(dao)體材料和(he)半導(dao)體材料質(zhi)量(liang)(liang)(liang)(liang)的一種重要的工(gong)(gong)具。本(ben)儀器(qi)配置(zhi)(zhi)各類測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)裝置(zhi)(zhi)可以(yi)(yi)測(ce)(ce)試不同(tong)材料。液晶顯示，無需(xu)人工(gong)(gong)計算，并(bing)帶有溫度(du)補償功(gong)能(neng)，電阻(zu)率(lv)單位自(zi)(zi)動選擇，儀器(qi)自(zi)(zi)動測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)并(bing)根據(ju)測(ce)(ce)試結果自(zi)(zi)動轉換量(liang)(liang)(liang)(liang)程，無需(xu)人工(gong)(gong)多(duo)次(ci)和(he)重復設置(zhi)(zhi)。采用(yong)高精度(du)AD芯片控制，恒流輸出，結構合理(li)、質(zhi)量(liang)(liang)(liang)(liang)輕便(bian)，運輸安全、使(shi)用(yong)方(fang)便(bian)；選配：配備軟(ruan)件(jian)可以(yi)(yi)由電腦操(cao)控，并(bing)保存和(he)打(da)印數(shu)據(ju)，自(zi)(zi)動生成報表(biao)；本(ben)儀(yi)器采(cai)用4.3吋大(da)液(ye)(ye)晶屏(ping)幕顯(xian)示，同時顯(xian)示液(ye)(ye)晶顯(xian)示：電(dian)(dian)阻、電(dian)(dian)阻率、方阻、溫(wen)度(du)、單位換算、溫(wen)度(du)系數、電(dian)(dian)流(liu)、電(dian)(dian)壓、探針(zhen)形狀、探針(zhen)間(jian)距、厚度(du) 、電導率(lv)，配置(zhi)不(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)治具可(ke)以(yi)滿足不(bu)同(tong)(tong)材料的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)要求。測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)治具可(ke)以(yi)根據產品及(ji)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)項目要求選購.

雙電測電四探針方阻電阻率測試儀參數

雙電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)數(shu)字(zi)式四探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi)(yi)是(shi)(shi)運(yun)用(yong)直(zhi)線(xian)或(huo)方形(xing)四探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)雙位測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量。該儀(yi)(yi)器(qi)設(she)計符合單晶硅(gui)物理測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)方法標(biao)準(zhun)并參考美國 A.S.T.M 標(biao)準(zhun)。利用(yong)電(dian)(dian)流(liu)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)、電(dian)(dian)壓(ya)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)的(de)變換(huan)，進行兩次電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量，對(dui)數(shu)據進行雙電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)分析，自(zi)動消(xiao)除樣(yang)品幾何尺寸、邊界效應以及探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)不等距和機械游(you)移(yi)等因素對(dui)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量結果(guo)的(de)影響，它與單電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)直(zhi)線(xian)或(huo)方形(xing)四探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)相(xiang)比，大大提高度(du)，特(te)別是(shi)(shi)適用(yong)于(yu)斜置式四探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)對(dui)于(yu)微區的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)。

參數資料

1.方塊電阻(zu)范圍：10^-2～2×10⁵Ω/□

2.電阻率范(fan)圍：10^-3～2×10⁶Ω-cm

3.測試電流范圍：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精(jing)度：±0.3%讀(du)數

5.電(dian)阻精度：≤0.5%

6.顯示讀數：液晶(jing)顯示：電(dian)阻、電(dian)阻率、方阻、溫度(du)、單位換算、溫度(du)系(xi)數、電(dian)流、電(dian)壓、探針(zhen)形狀、探針(zhen)間距、厚(hou)度(du) 、電導(dao)率(lv)

7.測(ce)試方(fang)式: 雙電測(ce)量

8.工作電源: 輸(shu)入(ru): AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整(zheng)機不確定(ding)性誤差: ≤4%（標準樣片(pian)結果）

10.選(xuan)(xuan)購功能: 選(xuan)(xuan)購1.pc軟件； 選(xuan)(xuan)購2.方形探頭； 選(xuan)(xuan)購3.直線形探頭； 選(xuan)(xuan)購4.測(ce)試平臺

11.測試探(tan)頭(tou)： 探(tan)針(zhen)間(jian)距選(xuan)購：1mm；2mm；3mm三種(zhong)規格; 探(tan)針(zhen)材質選(xuan)購：碳(tan)化(hua)鎢(wu)針(zhen);白鋼針(zhen)；鍍金(jin)磷銅半球形針(zhen)