涂布層四探針測試儀計算公式

按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口，本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量，更加準確.

涂布層四探針測試儀計算公式

本(ben)儀器(qi)本(ben)儀器(qi)采用(yong)四探針單電(dian)測量(liang)法適用(yong)于生產企業(ye)、高等院校、科(ke)研部門，是檢驗和(he)分(fen)析導(dao)體材(cai)(cai)料(liao)和(he)半導(dao)體材(cai)(cai)料(liao)質量(liang)的一種重(zhong)要的工(gong)具。本(ben)儀器(qi)配(pei)(pei)置(zhi)各類測量(liang)裝置(zhi)可以(yi)(yi)測試不同材(cai)(cai)料(liao)。液晶(jing)顯(xian)示，無(wu)需人工(gong)計算，并帶有溫(wen)度補償功能，電(dian)阻率單位自(zi)(zi)動選擇，儀器(qi)自(zi)(zi)動測量(liang)并根(gen)據測試結(jie)果自(zi)(zi)動轉換量(liang)程，無(wu)需人工(gong)多次(ci)和(he)重(zhong)復設置(zhi)。采用(yong)高精度AD芯片控制，恒(heng)流輸出(chu)，結(jie)構合理、質量(liang)輕便，運輸安全(quan)、使用(yong)方便；選配(pei)(pei)：配(pei)(pei)備軟件可以(yi)(yi)由電(dian)腦操控，并保存(cun)和(he)打(da)印數據，自(zi)(zi)動生成(cheng)報表；本儀器采用4.3吋大液晶(jing)屏幕(mu)顯(xian)示，同(tong)時顯(xian)示液晶(jing)顯(xian)示：電(dian)阻(zu)、電(dian)阻(zu)率、方阻(zu)、溫(wen)度、單(dan)位換算、溫(wen)度系數、電(dian)流、電(dian)壓、探(tan)針(zhen)形狀、探(tan)針(zhen)間距、厚度 、電導率，配置不(bu)同的測試治具可(ke)以滿足不(bu)同材(cai)料的測試要求。測試治具可(ke)以根(gen)據(ju)產品及測試項目要求選(xuan)購(gou).