導電性陶瓷方塊電阻測試儀現貨

概(gai)述(shu)：

按照硅片電阻(zu)率測(ce)量的標準（ASTM F84）及標準設計制造(zao)該(gai)儀器設計符(fu)合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻(zu)率測(ce)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺(zang)單晶電阻(zu)率測(ce)定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺(zang)單晶電阻(zu)率測(ce)定直流四探針法》并參(can)考(kao)美國(guo) A.S.T.M 標準，本機配置(zhi)232電腦接口及USB兩種接口，

導電性陶瓷方塊電阻測試儀現貨

參(can)數資料

1.方塊電阻范圍：10^-5～2×10⁵Ω/□

2.電阻率范圍：10^-6～2×10⁶Ω-cm

3.測試電流范圍(wei)：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

4.電流(liu)精度：±0.1%讀數(shu)

5.電阻精(jing)度：≤0.3%

6.顯示讀數(shu)：液晶顯示：電阻、電阻率(lv)、方阻、溫度、單位換算、溫度系(xi)數(shu)、電流(liu)、電壓、探針(zhen)形狀、探針(zhen)間距、厚度 、電導率(lv)

7.測試方式: 普通單電測量

8.工作電源: 輸(shu)入(ru): AC 220V±10% ,50Hz  功(gong) 耗：<30W

9.整機不確(que)定(ding)性誤差(cha): ≤4%（標準樣片(pian)結果）

10.選(xuan)(xuan)購(gou)(gou)功(gong)能: 選(xuan)(xuan)購(gou)(gou)1.pc軟件； 選(xuan)(xuan)購(gou)(gou)2.方形探頭； 選(xuan)(xuan)購(gou)(gou)3.直線形探頭； 選(xuan)(xuan)購(gou)(gou)4.測試平(ping)臺

11.測(ce)試探(tan)頭：   探(tan)針(zhen)(zhen)間距選(xuan)購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探(tan)針(zhen)(zhen)材質選(xuan)購：碳化(hua)鎢針(zhen)(zhen);白鋼針(zhen)(zhen)；鍍金(jin)磷銅半(ban)球形針(zhen)(zhen)