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高阻四探針測試儀

簡要描述:高(gao)阻(zu)四(si)探針測試儀(yi) 本機(ji)還可以配合各類環(huan)(huan)境(jing)溫度(du)試驗箱體(ti)使用(yong),通過(guo)不同(tong)的測量(liang)治具滿足不同(tong)環(huan)(huan)境(jing)溫度(du)下測量(liang)方阻(zu)和(he)電阻(zu)率的需求(qiu).采用(yong)高(gao)精度(du)AD芯片(pian)控(kong)制,恒流(liu)輸(shu)(shu)出,結(jie)構(gou)合理(li)、質量(liang)輕(qing)便(bian),運輸(shu)(shu)安全、使用(yong)方便(bian);適用(yong)于生產企業、高(gao)等院校、科(ke)研部門,是檢驗和(he)分析導體(ti)材料(liao)和(he)半導體(ti)材料(liao)質量(liang)的一種重要的工具。本儀(yi)器配置各類

  • 產品型號(hao):FT-371
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2023-05-17
  • 訪  問  量:7922
詳細介紹
品牌ROOKO/瑞柯價格區間3萬-5萬
自動化度半自動產地類別國產
應用領域化工,石油,冶金,制藥

 四探針(zhen)測試儀是寧波江北瑞柯偉業儀器有限公(gong)司研發的產品(pin),目前已被(bei)多家企業咨詢,預定,購(gou)買。

又是一(yi)(yi)種針對(dui)(dui)于產品(pin)性能(neng)測試的儀器,這(zhe)款儀器不(bu)但實用性強,而且*,瑞柯儀器一(yi)(yi)直在研發新品(pin),如果你對(dui)(dui)我們的儀器感興趣,歡迎,下面讓我們看下新品(pin)的性能(neng)和參數(shu)吧

FT-371超高(gao)阻雙電四探針測試儀

一、概述:本(ben)品為解決四(si)探針法測試(shi)超高阻(zu)值(zhi)(zhi)材(cai)料方(fang)阻(zu)及電阻(zu)率,zui大(da)(da)可以(yi)測試(shi)到(dao)1010Ω方(fang)阻(zu)值(zhi)(zhi),是目前同行業中能測量到(dao)的zui大(da)(da)方(fang)阻(zu)值(zhi)(zhi),選購:本(ben)機還可以(yi)配合各(ge)類環境(jing)溫度(du)試(shi)驗箱體使用(yong),

通過不(bu)同的測(ce)(ce)量(liang)治具(ju)滿足(zu)不(bu)同環境溫(wen)度下測(ce)(ce)量(liang)方(fang)阻和電阻率的需求.采用(yong)高(gao)精度AD芯片控制,恒流輸出(chu),結構合理、質(zhi)量(liang)輕(qing)便,運(yun)輸安全(quan)、使用(yong)方(fang)便;適用(yong)于生產(chan)企業、高(gao)等院校、科研部(bu)門,是檢驗和分析導體材料(liao)和半導體材料(liao)質(zhi)量(liang)的一種重要的工(gong)具(ju)。本(ben)儀(yi)器配(pei)置各類測(ce)(ce)量(liang)裝置可以(yi)測(ce)(ce)試不(bu)同材料(liao)。

液晶顯示,無需人工計算,并(bing)帶有溫度補償功能(neng),電(dian)阻率單位自動(dong)選(xuan)擇,儀(yi)器自動(dong)測(ce)量并(bing)根據測(ce)試結果自動(dong)轉換量程(cheng),

無需(xu)人工多(duo)次(ci)和重(zhong)復設置。選配:配備軟件可(ke)以由電(dian)腦操控,并保存和打印數據(ju),自動生成報表(biao);本儀器采用4.3吋大液(ye)晶屏幕顯(xian)示(shi),同時(shi)顯(xian)示(shi)液(ye)晶顯(xian)示(shi):電(dian)阻(zu)(zu)、電(dian)阻(zu)(zu)率(lv)、方阻(zu)(zu)、溫(wen)度(du)、單位換算、溫(wen)度(du)系數、電(dian)流(liu)、電(dian)壓(ya)、探針形(xing)狀、探針間(jian)距、厚(hou)度(du) 、電(dian)導率(lv),配置不(bu)同的測(ce)(ce)(ce)試治(zhi)具可(ke)以滿足不(bu)同材(cai)料的測(ce)(ce)(ce)試要求。測(ce)(ce)(ce)試治(zhi)具可(ke)以根據(ju)產品及測(ce)(ce)(ce)試項目要求選購.

雙電(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)數字式四探針測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)是運用直線(xian)或方形四探針雙位(wei)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)。該(gai)儀(yi)器設(she)計(ji)符合(he)單(dan)晶硅物理測(ce)(ce)(ce)試方法(fa)標(biao)準并參(can)考美國 A.S.T.M 標(biao)準。利用電(dian)(dian)(dian)流探針、電(dian)(dian)(dian)壓(ya)探針的(de)變換,進行兩次電(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang),對數據進行雙電(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)分析,自動消除樣品(pin)幾何(he)尺寸、邊界效應(ying)以及探針不等(deng)距和機械游移(yi)等(deng)因素對測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)結(jie)果的(de)影響,它與(yu)單(dan)電(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)直線(xian)或方形四探針相(xiang)比,大大提高度,特別是適用于(yu)斜置式四探針對于(yu)微區的(de)測(ce)(ce)(ce)試。

二、高阻四探針測試儀廣泛用于:覆蓋膜(mo);導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)高分子膜(mo),高、低溫電(dian)(dian)(dian)熱膜(mo);隔熱、防輻射(she)導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)窗(chuang)膜(mo) 導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)(屏(ping)蔽)布、裝飾膜(mo)、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜(mo);熔煉、燒結(jie)、濺(jian)射(she)、涂(tu)(tu)覆、涂(tu)(tu)布層,電(dian)(dian)(dian)阻式(shi)、電(dian)(dian)(dian)容式(shi)觸(chu)屏(ping)薄(bo)膜(mo);電(dian)(dian)(dian)極涂(tu)(tu)料(liao),其(qi)他半導(dao)(dao)體材料(liao)、薄(bo)膜(mo)材料(liao)方阻測試

硅晶(jing)塊、晶(jing)片電(dian)(dian)(dian)阻率及擴散層(ceng)(ceng)、外延層(ceng)(ceng)、ITO導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)箔膜(mo)(mo)(mo)、導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)橡(xiang)(xiang)膠等(deng)材料(liao)方塊電(dian)(dian)(dian)阻  半(ban)導(dao)(dao)(dao)體材料(liao)/晶(jing)圓(yuan)、太(tai)陽能電(dian)(dian)(dian)池、電(dian)(dian)(dian)子元器件,導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)薄(bo)膜(mo)(mo)(mo)(ITO導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)膜(mo)(mo)(mo)玻(bo)璃等(deng)),金屬(shu)(shu)膜(mo)(mo)(mo),導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)漆膜(mo)(mo)(mo),蒸(zheng)發鋁膜(mo)(mo)(mo),PCB銅箔膜(mo)(mo)(mo),EMI涂(tu)層(ceng)(ceng)等(deng)物質(zhi)的薄(bo)層(ceng)(ceng)電(dian)(dian)(dian)阻與電(dian)(dian)(dian)阻率  導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)性(xing)油漆,導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)性(xing)糊狀物,導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)性(xing)塑料(liao),導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)性(xing)橡(xiang)(xiang)膠,導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)性(xing)薄(bo)膜(mo)(mo)(mo),金屬(shu)(shu)薄(bo)膜(mo)(mo)(mo),抗(kang)靜電(dian)(dian)(dian)材料(liao), EMI 防護(hu)材料(liao),導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)性(xing)纖維,導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)性(xing)陶瓷等(deng)

三、高阻(zu)四探針(zhen)測試儀參數(shu)資料

1.方塊電阻范(fan)圍:101~2×1010Ω/□

2.電阻率范圍(wei):102~2×1011Ω-cm

3.測試電(dian)流范圍:1mA ---1pA  

4.電流(liu)精(jing)度:±0.1%讀數

5.電阻精(jing)度:108Ω以下≤5%  ;108Ω以上≤20%

6.顯(xian)示讀(du)數(shu):液晶顯(xian)示:電(dian)阻(zu)(zu)、電(dian)阻(zu)(zu)率(lv)、方(fang)阻(zu)(zu)、溫度(du)(du)、單位(wei)換算、溫度(du)(du)系數(shu)、電(dian)流、電(dian)壓(ya)、探針形狀(zhuang)、探針間距(ju)、厚度(du)(du) 、電(dian)導率(lv).

7.測試方式: 雙(shuang)電測量(liang)

8.工作電(dian)源: 輸入(ru): AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準(zhun)樣片結果)

10.選購(gou)功能: 選購(gou)1.pc軟件; 2.方形探頭(tou); 3.直線形探頭(tou); 4.測試(shi)平臺

11.測試探頭:  探針(zhen)間距選(xuan)購:1mm;2mm;3mm三(san)種規格; 探針(zhen)材質選(xuan)購:碳化鎢(wu)針(zhen);白鋼(gang)針(zhen);鍍金磷銅(tong)半球(qiu)形針(zhen)

 

ROOKO/瑞柯品牌,來自瑞柯儀器(qi)公司(si),一個(ge)專注于改變人們(men)生活方(fang)式(shi)和(he)品質的(de)企業.

專(zhuan)業與(yu)精致并重;與(yu)智慧之原

 


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