FT-333普通四探針電阻(zu)率/方阻(zu)測(ce)試儀

廣泛用于：覆蓋膜(mo);導電(dian)高分子膜(mo)，高、低溫(wen)電(dian)熱膜(mo);隔熱、防輻射導電(dian)窗膜(mo) 導電(dian)(屏蔽)布、裝飾膜(mo)、裝飾紙;金屬(shu)化(hua)標(biao)簽、

合金類箔膜;熔(rong)煉、燒結、濺(jian)射、涂覆、涂布層(ceng)，電阻式(shi)、電容式(shi)觸屏薄膜;電極涂料(liao)，其他(ta)半導(dao)體材料(liao)、薄膜材料(liao)方(fang)阻測試

GB/T 1551-1995《硅(gui)、鍺(zang)單(dan)晶電阻率測定(ding)直流兩探(tan)針(zhen)法》、GB/T 1552-1995《硅(gui)、鍺(zang)單(dan)晶電阻率測定(ding)直流四探(tan)針(zhen)法》并

參(can)考美國 A.S.T.M 標(biao)準，本機(ji)配置232電腦接(jie)口及USB兩(liang)種接(jie)口，本機(ji)結(jie)合采用范德堡測量原理能改善(shan)樣品因(yin)幾何尺寸、

邊(bian)界效(xiao)應(ying)、探(tan)(tan)針不等(deng)(deng)距和機(ji)械游移等(deng)(deng)外(wai)部因素對(dui)測(ce)(ce)量(liang)結果的影響及誤差，比市場(chang)上其他普通的四探(tan)(tan)針測(ce)(ce)試方法更加完善和進步(bu),特別是方塊電阻值較小的產品測(ce)(ce)量(liang)，更加準確.

四探針表面電阻測試儀采用

四探針單(dan)電測量法適(shi)用于生(sheng)產企業、高等院校、科(ke)研部門，是檢驗和分析(xi)導(dao)體(ti)材料和半

導體材(cai)料質量的一種重要的工具。本(ben)儀器(qi)配置(zhi)(zhi)各類測(ce)量裝置(zhi)(zhi)可(ke)以測(ce)試不同材(cai)料。液晶顯示，無需(xu)人(ren)工計算，并帶(dai)有

溫(wen)度補(bu)償功(gong)能，電阻率單位自動(dong)(dong)選擇，儀(yi)器(qi)自動(dong)(dong)測(ce)量(liang)并根據測(ce)試(shi)結果自動(dong)(dong)轉換量(liang)程，無需(xu)人(ren)工多次(ci)和重復設(she)置。采用(yong)

高精度AD芯片控(kong)制(zhi)，恒流輸出，結(jie)構合理、質量(liang)輕(qing)便，運(yun)輸安全、使用方便；選配：配備軟(ruan)件可(ke)以由電(dian)腦操控(kong)，并(bing)

四探針表面電阻測試儀參數資料

1.方塊電阻范圍：10^-3～2×10⁵Ω/□

2.電阻(zu)率范圍：10^-4～2×10⁶Ω-cm

3.測試電流范(fan)圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.2%讀數(shu)

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數：液晶顯示：電(dian)阻、電(dian)阻率、方阻、溫(wen)度、單(dan)位換(huan)算(suan)、溫(wen)度系數、電(dian)流、電(dian)壓、探針形狀、探針間(jian)距、厚度 、電導(dao)率

7.測(ce)試方式: 普通單(dan)電測(ce)量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機不(bu)確定性誤差: ≤4%（標準樣(yang)片結果）

10.選購功(gong)能: 選購1.pc軟(ruan)件； 選購2.方形探(tan)頭(tou)； 選購3.直線形探(tan)頭(tou)； 選購4.測(ce)試平(ping)臺

11.測試(shi)探頭：&nbsp;  探針(zhen)間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針(zhen)材(cai)質(zhi)選購：碳化鎢針(zhen);白鋼針(zhen)；鍍金(jin)磷銅半球形針(zhen)

ROOKO/瑞(rui)柯品牌，來自瑞(rui)柯儀器公司，一個專注于(yu)改變人們(men)生活方式和品質的企(qi)業.

專業與精致并重；與智慧之原