FT-336普通(tong)四探針(zhen)電阻率(lv)/方阻測試(shi)儀(yi)

按照硅(gui)片電阻(zu)(zu)率測(ce)量的標準（ASTM F84）及標準設計制造(zao)該(gai)儀器(qi)設計符合(he)GB/T 1551-2009 《硅(gui)單晶(jing)(jing)電阻(zu)(zu)率測(ce)定(ding)方法》、GB/T 1551-1995《硅(gui)、鍺(zang)單晶(jing)(jing)電阻(zu)(zu)率測(ce)定(ding)直流兩(liang)探(tan)針(zhen)法》、GB/T 1552-1995《硅(gui)、鍺(zang)單晶(jing)(jing)電阻(zu)(zu)率測(ce)定(ding)直流四探(tan)針(zhen)法》并，

自動(dong)生成報表(biao)；本儀器采用4.3吋大液晶(jing)屏幕(mu)顯示(shi)，同時顯示(shi)液晶(jing)顯示(shi)：電(dian)(dian)阻(zu)、電(dian)(dian)阻(zu)率、方(fang)阻(zu)、溫度、單(dan)位換算、溫度系(xi)數、電(dian)(dian)流、電(dian)(dian)壓(ya)、探(tan)針形狀、探(tan)針間距、厚度 、電導率，配置不同的測(ce)試治具可(ke)(ke)以滿足(zu)不同材料(liao)的測(ce)試要(yao)求(qiu)。測(ce)試治具可(ke)(ke)以根據產品及測(ce)試項目要(yao)求(qiu)選購(gou).

四探針法方阻計廣泛用(yong)于(yu)：

覆蓋膜;導(dao)(dao)(dao)電(dian)高分子膜，高、低溫電(dian)熱(re)膜;隔熱(re)、防輻射導(dao)(dao)(dao)電(dian)窗膜 導(dao)(dao)(dao)電(dian)(屏蔽)布、裝(zhuang)(zhuang)飾(shi)膜、裝(zhuang)(zhuang)飾(shi)紙;金屬化標簽、合(he)金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂(tu)覆、涂(tu)布層，電(dian)阻式、電(dian)容式觸屏薄(bo)膜;電(dian)極涂(tu)料(liao)，其他半導(dao)(dao)(dao)體(ti)材料(liao)、薄(bo)膜材料(liao)方(fang)阻測試

硅晶(jing)塊、晶(jing)導電(dian)性薄膜(mo)，金屬薄膜(mo)，抗靜電(dian)材料(liao)， EMI 防護材料(liao)，導電(dian)性纖維(wei)，導電(dian)性陶(tao)瓷等(deng)

四探針法方阻計參數資(zi)料(liao)

1.方塊電阻(zu)范圍：10^-2～2×10³Ω/□

2.電阻率范圍：10^-3～2×10⁴Ω-cm

3.測(ce)試電流范圍：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.3%讀數

5.電阻(zu)精度：≤0.5%

6.顯示讀數：液晶(jing)顯(xian)示：電(dian)阻(zu)、電(dian)阻(zu)率、方阻(zu)、溫度(du)(du)、單位(wei)換(huan)算、溫度(du)(du)系數、電(dian)流、電(dian)壓、探針形狀、探針間距、厚度(du)(du) 、電導率

7.測試方式: 普通單電測量

8.工(gong)作電源: 輸(shu)入(ru): AC 220V±10% ,50Hz  功(gong) 耗：<30W

9.整機不確定性誤差(cha): ≤4%（標準樣片結果(guo)）

10.選(xuan)購(gou)功能: 選(xuan)購(gou)1.pc軟件； 選(xuan)購(gou)2.方形探頭； 選(xuan)購(gou)3.直線形探頭； 選(xuan)購(gou)4.測試(shi)平(ping)臺

11.測試探頭：   探針(zhen)(zhen)間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(gui)格; 探針(zhen)(zhen)材質選購：碳(tan)化(hua)鎢針(zhen)(zhen);白鋼針(zhen)(zhen)；鍍(du)金磷銅半球形針(zhen)(zhen)

ROOKO/瑞(rui)柯品(pin)牌(pai)，來自瑞(rui)柯儀器公司，一個(ge)專注于改(gai)變人(ren)們生活方(fang)式和(he)品(pin)質的(de)企業.

專業(ye)與精(jing)致并重(zhong)；與智(zhi)慧(hui)之原