FT-330系列普通四探針方阻測試儀

FT-330 Series common four probe resistance ratio test instrument

1. 描(miao)述Description：

采用范德堡測(ce)(ce)量原理能解決樣品因(yin)幾何(he)尺(chi)寸、邊界效應(ying)、探針不等距和機械游移等外部因(yin)素對測(ce)(ce)量結果的影(ying)響及(ji)誤差，提供通訊接口，PC軟件(jian)數(shu)據處(chu)理(li)及數(shu)據分析(xi).中文或英文語言版(ban)本.

二(er).參照標準standard：

硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及(ji)國(guo)家標準設(she)計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電(dian)阻率測定方法(fa)》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單(dan)晶(jing)電阻率測(ce)定直流四(si)探針法》.

三.四探針方阻測試儀適用范圍Applicable scope：

適用于生產企業(ye)、高等院校(xiao)、科研部門(men)，是(shi)檢驗和(he)分析半導體材料質(zhi)量(liang)的(de)工具；液晶(jing)顯示，自(zi)動(dong)測量(liang)和(he)系數補償，并(bing)帶有溫度(du)補償功(gong)能(neng)，自(zi)動(dong)轉換量(liang)程；采用AD芯片控制，恒(heng)流輸出，選配：PC軟件，保存(cun)和打(da)印數據，生成報表

用于：覆(fu)蓋(gai)膜;導電高(gao)分子(zi)膜(mo)(mo)，高(gao)、低溫電熱膜(mo)(mo);隔(ge)熱、導電窗(chuang)膜 導(dao)電(屏蔽(bi))布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒(shao)結、濺射、涂覆、涂布層，電(dian)阻式(shi)、電(dian)容式(shi)觸屏薄膜(mo);電極涂(tu)料(liao)，其他(ta)半(ban)導體材(cai)(cai)料(liao)、薄膜(mo)材(cai)(cai)料(liao)方阻測試

四探針方阻測試儀