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簡要(yao)描述:高(gao)溫(wen)(wen)四(si)(si)探針測(ce)試(shi)儀現貨,采用由四(si)(si)探針雙(shuang)電(dian)測(ce)量(liang)(liang)方法測(ce)試(shi)方阻(zu)(zu)和電(dian)阻(zu)(zu)率系(xi)統與高(gao)溫(wen)(wen)試(shi)驗箱結合配置(zhi)的(de)高(gao)溫(wen)(wen)測(ce)試(shi)探針治具,滿(man)足半導體材(cai)(cai)料(liao)因(yin)溫(wen)(wen)度變化對電(dian)阻(zu)(zu)值變化的(de)測(ce)量(liang)(liang)要(yao)求,通過先進的(de)測(ce)控軟件可以顯示出溫(wen)(wen)度與電(dian)阻(zu)(zu),電(dian)阻(zu)(zu)率,電(dian)導率數據的(de)變化曲(qu)線,是檢驗和分析導體材(cai)(cai)料(liao)和半導體材(cai)(cai)料(liao)質(zhi)量(liang)(liang)的(de)一種重要(yao)的(de)工具。
品牌 | ROOKO/瑞柯 | 價格區間 | 1萬-3萬 |
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自動化度 | 全自動 | 產地類別 | 國產 |
應用領域 | 能源,電子,交通,航天,汽車 |
高溫四探針測試儀
采用(yong)四探(tan)(tan)針雙電組合測量方法(fa)測試方阻(zu)和電阻(zu)率系統與高(gao)溫箱(xiang)結合配置高(gao)溫四探(tan)(tan)針測試探(tan)(tan)針治具與PC軟件對數據的處理和測量控制,解決半導(dao)體(ti)材料的電導(dao)率對溫度(du)(du)變(bian)化測量要求(qiu),軟件實時(shi)繪制出(chu)溫度(du)(du)與電阻(zu),電阻(zu)率,電導(dao)率數據的變(bian)化曲(qu)線圖譜,及(ji)過(guo)程數據值(zhi)的報表分析.
二.四探針測試儀適用行業:Applicable industry:
用于:企業、高(gao)等(deng)(deng)院校、科研(yan)部門對導(dao)電(dian)陶瓷(ci)、硅、鍺(zang)單晶(棒料(liao)、晶片)電(dian)阻(zu)率、測定硅外延(yan)層、擴(kuo)散(san)層和離子注(zhu)入層的方塊電(dian)阻(zu)以(yi)及測量導(dao)電(dian)玻璃(li)(ITO)和其它導(dao)電(dian)薄膜(mo)等(deng)(deng)新材料(liao)方塊電(dian)阻(zu)、電(dian)阻(zu)率和電(dian)導(dao)率數據.
雙(shuang)電(dian)測(ce)四(si)探(tan)(tan)針儀是運(yun)用直線四(si)探(tan)(tan)針雙(shuang)位測(ce)量。設計參照單晶(jing)硅物理測(ce)試方法(fa)并(bing)參考美(mei)國 A.S.T.M 標準。
FT-351高溫四探針電(dian)阻率測試系統
FT-351 high temperature four probe resistivity test system
一.四探針測試儀概述:
采用四探(tan)針(zhen)(zhen)雙(shuang)電(dian)(dian)組(zu)合(he)(he)測(ce)量方法測(ce)試(shi)方阻(zu)和(he)電(dian)(dian)阻(zu)率(lv)系統與高溫箱結合(he)(he)配置高溫四探(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)試(shi)探(tan)針(zhen)(zhen)治具(ju)與PC軟件(jian)對(dui)數據的處理和(he)測(ce)量控制(zhi),解決半導體(ti)材料的電(dian)(dian)導率(lv)對(dui)溫度變化測(ce)量要求,軟件(jian)實時(shi)繪制(zhi)出(chu)溫度與電(dian)(dian)阻(zu),電(dian)(dian)阻(zu)率(lv),電(dian)(dian)導率(lv)數據的變化曲線圖譜,及(ji)過程數據值的報表(biao)分析.
二.四探針測試儀適用行業:
用于:企業(ye)、高等院校、科研部(bu)門(men)對導(dao)電(dian)(dian)陶(tao)瓷、硅、鍺單晶(棒料(liao)、晶片)電(dian)(dian)阻率(lv)(lv)、測定硅外(wai)延層、擴散(san)層和(he)離子(zi)注入層的(de)方塊(kuai)電(dian)(dian)阻以及(ji)測量導(dao)電(dian)(dian)玻璃(li)(ITO)和(he)其它導(dao)電(dian)(dian)薄(bo)膜等新材料(liao)方塊(kuai)電(dian)(dian)阻、電(dian)(dian)阻率(lv)(lv)和(he)電(dian)(dian)導(dao)率(lv)(lv)數據.
雙(shuang)(shuang)電測(ce)(ce)四(si)探針(zhen)儀是運(yun)用直線四(si)探針(zhen)雙(shuang)(shuang)位測(ce)(ce)量。設計(ji)參照單晶硅物理測(ce)(ce)試方法并參考美國(guo) A.S.T.M 標準。
三.四探針測試儀型號及參數
規格型號 | FT-351A | FT-351B | FT-351C |
1.方塊電阻范圍 | 10-5~2×105Ω/□ | 10-6~2×105Ω/□ | 10-4~1×107Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 10-6~2×106Ω-cm | 10-7~2×106Ω-cm | 10-5~2×108Ω-cm |
3.測試電流范圍 | 0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | 10mA ---200pA |
4.電流精度 | ±0.1%讀數 | ±0.1讀數(shu) | ±2% |
5.電阻精度 | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤10% |
PC軟件界面 | 顯示(shi):電(dian)阻、電(dian)阻率、方阻、溫度(du)、單位換算、溫度(du)系數、電(dian)流、電(dian)壓、探針形狀、探針間距、厚度(du) 、電(dian)導(dao)率 | ||
7.測試方式 | 雙電測量 | ||
8.四探針儀工作(zuo)電源 | AC 220V±10%.50Hz <30W | ||
9.誤差 | ≤3%(標準樣片結果(guo) | ≤15% | |
溫度(選購)
| 常(chang)溫 -400℃;600℃;800℃;1000℃;1200℃;1400℃;1600℃ | ||
氣(qi)氛保護(氣(qi)體客(ke)戶自備)) | 常用氣體如(ru)下:氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(ke)(Kr)、氙(xian)(Xe)、氡(Rn),均為無(wu)色、無(wu)臭、氣態的單原子(zi)分子(zi) | ||
溫度精度 | 沖溫值:≤1-3℃;控溫精度:±1°C | ||
升溫速度: e | 常(chang)溫(wen)開始400℃--800℃需要15分(fen)(fen)鐘(zhong)(zhong);800℃-1200℃需要30分(fen)(fen)鐘(zhong)(zhong);1400℃-1600℃需要250分(fen)(fen)鐘(zhong)(zhong)—300分(fen)(fen)鐘(zhong)(zhong) | ||
高溫材料 | 采用復合陶瓷纖維材料,具有真空(kong)成型,高溫不掉粉的特征 | ||
PC軟件 | 測(ce)試(shi)PC軟件一套(tao),USB通訊(xun)接口(kou),軟件界面同步顯示(shi)、分(fen)析(xi)、保存(cun)和打(da)印(yin)數據! | ||
電極材料 | 鎢電極或鉬電極 | ||
探針間距 | 直線型探針,探針中心間距:4mm;樣品要求大于(yu)13mm直徑(jing) | ||
標配外(選購): | 電腦(nao)和(he)打印機(ji)1套;2.標(biao)準(zhun)電阻(zu)1-5個; | ||
高溫電源: | 供電(dian):400-1200℃ 電(dian)源220V,功率4KW;380V;1400℃-1600℃電(dian)源380V;功率9KW: |
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