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0574-27976124
| 品牌 | ROOKO/瑞柯 | 價格區間 | 1萬-3萬 |
|---|---|---|---|
| 自動化度 | 半自動 | 應用領域 | 醫療衛生,能源,電子,印刷包裝,航天 |
FT-340系列雙(shuang)電(dian)測四探針(zhen)電(dian)阻(zu)率/方阻(zu)測試儀
本儀器(qi)本儀器(qi)采用四探針雙電測量方(fang)法(fa)，
適用于(yu)生產(chan)企業(ye)、高等院校、科(ke)研部門，是檢驗和(he)分析導體材料和(he)半導體材料質量的一種重要的工具。
本儀器(qi)配置各類測(ce)(ce)量裝置可以(yi)測(ce)(ce)試不同(tong)材料。液晶顯示，無需人工(gong)計(ji)算，并(bing)帶有溫度補償功能，電阻率單位自動(dong)(dong)選擇，儀器(qi)自動(dong)(dong)測(ce)(ce)量并(bing)根據測(ce)(ce)試結果自動(dong)(dong)轉換量程(cheng)，無需人工(gong)多次(ci)和重復設置。
半導(dao)體四探針方(fang)阻(zu)測試儀
采用高精(jing)度AD芯片(pian)控(kong)制，恒流輸出(chu)，結構合理(li)、質量輕(qing)便，運輸安全(quan)、使(shi)用方便；選(xuan)配：配備軟件(jian)可以由電腦操控(kong)，并保存和打印數據(ju)，自(zi)動生成報(bao)表；本儀器采用(yong)4.3吋(cun)大(da)液晶(jing)屏幕(mu)顯示，
同時顯示液晶顯示：電(dian)(dian)(dian)阻、電(dian)(dian)(dian)阻率、方阻、溫(wen)度(du)、單位(wei)換(huan)算、溫(wen)度(du)系(xi)數、電(dian)(dian)(dian)流、電(dian)(dian)(dian)壓、探針形(xing)狀、探針間距(ju)、厚(hou)度(du) 、電導(dao)率
，配置不(bu)同的測(ce)試(shi)治具可以滿足不(bu)同材料的測(ce)試(shi)要求。測(ce)試(shi)治具可以根據(ju)產品及測(ce)試(shi)項(xiang)目要求選購.
雙電測(ce)數字式四(si)探針(zhen)測(ce)試儀是運用直線(xian)或方形四(si)探針(zhen)雙位測(ce)量。
該儀器設計符合單晶硅物理(li)測(ce)試方法(fa)標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探(tan)針、電壓探(tan)針的變換，進(jin)行(xing)兩次電測(ce)量(liang)，
對數(shu)據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何(he)尺寸、邊界效應以(yi)及(ji)探針不等(deng)距和機械游移(yi)等(deng)因素對測量結果的影響，
FT-340系列雙電測(ce)四(si)探針(zhen)電阻率/方阻測(ce)試儀(yi)
它(ta)與單(dan)電測直線或(huo)方(fang)形(xing)四探針相比，大大提高度(du)，特別是適用于斜置式四探針對于微(wei)區的測試。
廣泛用于：覆蓋(gai)膜(mo);導(dao)電高分(fen)子膜(mo)，高、低溫電熱膜(mo);隔熱、防(fang)輻射導(dao)電窗膜(mo) 導(dao)電(屏蔽(bi))布(bu)、裝(zhuang)飾膜(mo)、裝(zhuang)飾紙(zhi);金屬化標(biao)簽、
合金類箔膜(mo);熔(rong)煉、燒結、濺射、涂(tu)覆、涂(tu)布層，電阻式、電容式觸屏薄膜(mo);電極涂(tu)料，其他半導體材料、薄膜(mo)材料方(fang)阻測(ce)試
硅晶塊(kuai)、晶片電(dian)阻率及擴(kuo)散層(ceng)、外延層(ceng)、ITO導(dao)電(dian)箔(bo)膜、導(dao)電(dian)橡(xiang)膠等材料方(fang)塊(kuai)電(dian)阻 半導(dao)體材料/晶圓、太陽能電池、
電(dian)子元(yuan)器件，導電(dian)薄膜（ITO導(dao)電(dian)膜(mo)(mo)玻璃等(deng)），金屬膜(mo)(mo)，導(dao)電(dian)漆膜(mo)(mo)，蒸發鋁膜(mo)(mo)，PCB銅箔膜，
EMI涂層等物質的薄層電阻與(yu)電阻率 導(dao)電(dian)性(xing)(xing)(xing)油漆，導(dao)電(dian)性(xing)(xing)(xing)糊狀物(wu)，導(dao)電(dian)性(xing)(xing)(xing)塑料，導(dao)電(dian)性(xing)(xing)(xing)橡(xiang)膠，導(dao)電(dian)性(xing)(xing)(xing)薄膜，金(jin)屬薄膜，
抗(kang)靜電(dian)材(cai)料， EMI 防(fang)護材(cai)料，導(dao)電(dian)性纖維(wei)，導(dao)電(dian)性陶瓷(ci)等
半導體四探針方阻測試儀
規(gui)格型號 | FT-341 | FT-342 | FT-343 | FT-345 | FT-346 | FT-347 |
1.方(fang)塊(kuai)電(dian)阻范圍 | 10-5～2×105Ω/□ | 10-4～2×103Ω/□ | 10-3～2×105Ω/□ | 10-3～2×103Ω/□ | 10-2～2×105Ω/□ | 10-2～2×103Ω/□ |
2.電阻率(lv)范圍 | 10-6～2×106Ω-cm | 10-5～2×104-cm | 10-4～2×106Ω-cm | 10-4～2×104-cm | 10-3～2×106Ω-cm | 10-3～2×106Ω-cm |
3.測試(shi)電流范(fan)圍 | 0.1μA,μA,0μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 0.1μA,μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA |
4.電流精度(du) | ±0.1%讀數(shu) | ±0.2%讀數(shu) | ±0.2%讀數 | ±0.3%讀數 | ±0.3%讀數 | ±0.3%讀數(shu) |
5.電(dian)阻精度 | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% |
6.顯示讀數 | 大屏(ping)液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度(du)(du)、單位(wei)換(huan)算、溫度(du)(du)系(xi)數、電流、電壓、探針形狀(zhuang)、探針間距、厚度(du)(du) 、電導率 | |||||
7.測試方式(shi) | 雙電(dian)測量 | |||||
8.工作(zuo)電源 | 輸(shu)入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗(hao)：<30W | |||||
9.整機不確(que)定性誤差(cha) | ≤3%（標準(zhun)樣片(pian)結果） | |||||
10.選購功能 | 選(xuan)(xuan)(xuan)購1.pc軟件； 選(xuan)(xuan)(xuan)購2.方形(xing)探(tan)頭； 選(xuan)(xuan)(xuan)購3.直線形(xing)探(tan)頭； 選(xuan)(xuan)(xuan)購4.測試平臺 | |||||
11.測試探頭(tou) | 探針(zhen)間距(ju)選購：1mm；2mm；3mm三種規(gui)格; 探針(zhen)材質選購：碳化鎢(wu)針(zhen);白鋼針(zhen)；鍍金(jin)磷(lin)銅半球形針(zhen) | |||||
半(ban)導體四(si)探(tan)針方阻測(ce)試(shi)儀