�þþþ�99��Ʒ��Ƭ�Կ�,��Ʒһ��ʽâ��

30

2023-5

四(si)(si)(si)探針(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)是(shi)一種(zhong)常用于(yu)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)材(cai)料電(dian)學性質(zhi)的儀(yi)器。其(qi)原理(li)基于(yu)四(si)(si)(si)個探針(zhen)分(fen)別接(jie)觸到(dao)被測(ce)(ce)(ce)(ce)樣(yang)(yang)品的表面，通過測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)樣(yang)(yang)品表面上的電(dian)勢(shi)差(cha)和電(dian)流來(lai)計(ji)算出材(cai)料的電(dian)阻(zu)率、導電(dian)率等(deng)電(dian)學性質(zhi)。使用四(si)(si)(si)探針(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)需要以下步(bu)驟：1.準備被測(ce)(ce)(ce)(ce)樣(yang)(yang)品：將(jiang)(jiang)(jiang)待測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)的樣(yang)(yang)品清洗干凈，并(bing)(bing)確保其(qi)表面平整、無明顯劃痕或損傷。2.連接(jie)四(si)(si)(si)探針(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)：將(jiang)(jiang)(jiang)四(si)(si)(si)個探針(zhen)依次連接(jie)到(dao)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)上，并(bing)(bing)根(gen)據(ju)(ju)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)的說(shuo)明書進行正確的接(jie)線(xian)。3.放置樣(yang)(yang)品：將(jiang)(jiang)(jiang)樣(yang)(yang)品放置在測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)臺上，并(bing)(bing)用夾具固定好(hao)。4.調整探針(zhen)位置：根(gen)據(ju)(ju)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)的要求，將(jiang)(jiang)(jiang)四(si)(si)(si)個探針(zhen)分(fen)別移動(dong)到(dao)需要測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)的位...

26

2023-4

振實密度儀是一種常用的實驗室測試設備用于測量物質的密度

振(zhen)實密(mi)(mi)度(du)(du)儀(yi)(yi)(yi)是(shi)一種常(chang)用的(de)(de)(de)實驗室測(ce)試(shi)設備，用于測(ce)量物質的(de)(de)(de)密(mi)(mi)度(du)(du)。它的(de)(de)(de)工(gong)作(zuo)原理是(shi)根(gen)據牛(niu)頓(dun)第二定律(lv)，通過(guo)振(zhen)動(dong)物質樣(yang)(yang)本，測(ce)量其在(zai)重力(li)場(chang)(chang)中(zhong)(zhong)(zhong)所受的(de)(de)(de)振(zhen)幅和頻率(lv)變化，從而計算出物質的(de)(de)(de)密(mi)(mi)度(du)(du)。本文將(jiang)從技術角(jiao)度(du)(du)介紹振(zhen)實密(mi)(mi)度(du)(du)儀(yi)(yi)(yi)的(de)(de)(de)工(gong)作(zuo)原理、使(shi)用方法、優缺(que)點(dian)和市場(chang)(chang)現(xian)狀。一、工(gong)作(zuo)原理振(zhen)實密(mi)(mi)度(du)(du)儀(yi)(yi)(yi)主要由振(zhen)蕩器、測(ce)量儀(yi)(yi)(yi)和樣(yang)(yang)品艙(cang)組成(cheng)。將(jiang)物質樣(yang)(yang)品放入樣(yang)(yang)品艙(cang)中(zhong)(zhong)(zhong)，在(zai)振(zhen)蕩器的(de)(de)(de)作(zuo)用下，樣(yang)(yang)品會受到振(zhen)動(dong)力(li)的(de)(de)(de)作(zuo)用，振(zhen)動(dong)產(chan)生的(de)(de)(de)波動(dong)會傳遞到測(ce)量儀(yi)(yi)(yi)中(zhong)(zhong)(zhong)，通過(guo)測(ce)量儀(yi)(yi)(yi)的(de)(de)(de)顯示屏可以讀取樣(yang)(yang)品密(mi)(mi)度(du)(du)的(de)(de)(de)數值(zhi)。其中(zhong)(zhong)(zhong)振(zhen)蕩器的(de)(de)(de)頻率(lv)可以調節(jie)，以適應不同樣(yang)(yang)品的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)...

21

2023-3

四探針測試儀是一種非侵入性測試工具

四探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)是(shi)一(yi)種非(fei)侵入(ru)性(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)工具(ju)，用于(yu)(yu)測(ce)(ce)(ce)量(liang)材料(liao)(liao)電學(xue)性(xing)質。它的(de)(de)(de)工作(zuo)原理(li)是(shi)通過四根針(zhen)(zhen)分別施加電壓(ya)和(he)測(ce)(ce)(ce)量(liang)電流，再根據歐姆定律(lv)計(ji)算材料(liao)(liao)的(de)(de)(de)電阻率。四探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)廣泛(fan)應用于(yu)(yu)半導(dao)體(ti)和(he)材料(liao)(liao)科(ke)學(xue)中。四探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)的(de)(de)(de)設計(ji)和(he)制(zhi)(zhi)(zhi)造(zao)必須(xu)考慮(lv)多種因素，包括探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)的(de)(de)(de)材料(liao)(liao)、尺寸和(he)幾何(he)形(xing)狀、電壓(ya)源和(he)電流表的(de)(de)(de)質量(liang)、噪音等。以(yi)下是(shi)四探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)設計(ji)和(he)應用的(de)(de)(de)一(yi)些關鍵技術(shu)：探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)制(zhi)(zhi)(zhi)造(zao)技術(shu)四探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)的(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)通常由純銅或金(jin)屬箔制(zhi)(zhi)(zhi)成。探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)的(de)(de)(de)長度(du)應該足(zu)夠長，以(yi)便離開(kai)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)區域，以(yi)避免由于(yu)(yu)探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)長度(du)的(de)(de)(de)影(ying)響而導(dao)致測(ce)(ce)(ce)量(liang)誤差。探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)的(de)(de)(de)尺寸和(he)幾何(he)形(xing)...

14

2022-7

粉末流動性測試儀對粉末性狀分析和產品質量管控配比都有很好的提升

粉末(mo)流(liu)(liu)(liu)(liu)動性測試儀在粉末(mo)冶金(jin)、食(shi)品、制藥、金(jin)屬、化工、農業等(deng)金(jin)屬類及非金(jin)屬類散(san)裝(zhuang)物(wu)料等(deng)生(sheng)產過(guo)程中(zhong)，廣泛涉及到(dao)顆粒物(wu)流(liu)(liu)(liu)(liu)動，如筒倉卸料、傳輸、混(hun)合、流(liu)(liu)(liu)(liu)化和(he)固(gu)/氣(qi)分(fen)離等(deng)，分(fen)析顆粒物(wu)料的(de)流(liu)(liu)(liu)(liu)動特性，對于防止發生(sheng)粉體堵塞、控制顆粒成(cheng)分(fen)的(de)均(jun)勻性和(he)一致性都具有(you)至關重(zhong)要的(de)意(yi)義。粉末(mo)流(liu)(liu)(liu)(liu)動性測試儀的(de)使用技巧：1、粉末(mo)流(liu)(liu)(liu)(liu)動性測試儀在室溫和(he)中(zhong)等(deng)濕度條件下使用。2、所使用的(de)壓縮(suo)空(kong)氣(qi)應(ying)當(dang)清潔,無水汽和(he)油。3、流(liu)(liu)(liu)(liu)化杯為有(you)機玻璃制,易碎,操(cao)作(zuo)過(guo)程應(ying)輕(qing)(qing)拿輕(qing)(qing)放。4、壓縮(suo)空(kong)氣(qi)旋紐和(he)空(kong)氣(qi)流(liu)(liu)(liu)(liu)量計為精密(mi)儀器,操(cao)作(zuo)時忌用力過(guo)...

24

2022-6

什么原因會導致四探針電阻率測試儀產生過熱的情況

四(si)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)測(ce)(ce)(ce)(ce)試儀對于半導體材料的(de)電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)，一(yi)般采用四(si)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)、三探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)和擴展電(dian)(dian)(dian)阻。電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)是(shi)(shi)(shi)反(fan)映半導體材料導電(dian)(dian)(dian)性能的(de)重(zhong)要參數(shu)(shu)之(zhi)一(yi)。測(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)的(de)方(fang)法(fa)很(hen)多(duo)，四(si)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)法(fa)是(shi)(shi)(shi)一(yi)種廣泛采用的(de)標準方(fang)法(fa)。四(si)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)測(ce)(ce)(ce)(ce)試儀特點是(shi)(shi)(shi)主機(ji)配置雙(shuang)數(shu)(shu)字(zi)表(biao)，在測(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)的(de)同時(shi)，另一(yi)塊數(shu)(shu)字(zi)表(biao)(以萬分之(zhi)幾的(de)精度)適時(shi)監測(ce)(ce)(ce)(ce)全(quan)程的(de)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)變化，免(mian)除了(le)測(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)/測(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)的(de)轉(zhuan)換，更及時(shi)掌控測(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)。主機(ji)還(huan)提(ti)供精度為0.05%的(de)恒(heng)流(liu)(liu)源，使測(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)高度穩定(ding)。四(si)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)測(ce)(ce)(ce)(ce)試儀體積小、重(zhong)量比(bi)較輕、便于隨身(shen)攜(xie)帶。它擁有測(ce)(ce)(ce)(ce)量迅速、方(fang)便使...

23

2022-5

使用雙電四探針測試儀時須特別留意的要點

使用(yong)雙電(dian)(dian)四(si)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)時(shi)須特(te)(te)別留意的(de)要點雙電(dian)(dian)四(si)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)是(shi)運(yun)用(yong)四(si)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)原理測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)阻(zu)率/方(fang)阻(zu)的(de)多用(yong)途綜合(he)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)儀(yi)器。根據不同材(cai)料(liao)(liao)特(te)(te)性(xing)需要，配有多款測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)：1、配合(he)四(si)端(duan)子測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)夾具，測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)電(dian)(dian)阻(zu)器體(ti)電(dian)(dian)阻(zu)、金(jin)(jin)屬(shu)導(dao)(dao)體(ti)的(de)低、中值電(dian)(dian)阻(zu)以(yi)及開關類接觸電(dian)(dian)阻(zu)；2、專用(yong)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)可測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)池片等箔上涂層電(dian)(dian)阻(zu)率/方(fang)阻(zu)。3、高耐磨碳化(hua)鎢探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)硅類半導(dao)(dao)體(ti)、金(jin)(jin)屬(shu)、導(dao)(dao)電(dian)(dian)塑料(liao)(liao)類等硬質材(cai)料(liao)(liao)的(de)電(dian)(dian)阻(zu)率/方(fang)阻(zu)；4、球形鍍(du)金(jin)(jin)銅合(he)金(jin)(jin)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)柔性(xing)材(cai)料(liao)(liao)導(dao)(dao)電(dian)(dian)薄膜(mo)(mo)(mo)、金(jin)(jin)屬(shu)涂層或薄膜(mo)(mo)(mo)、陶瓷或玻璃等基底上導(dao)(dao)電(dian)(dian)膜(mo)(mo)(mo)（ITO膜(mo)(mo)(mo)）或納米涂層...

27

2022-4

振實密度測試儀測試的振實密度是什么？

振(zhen)實(shi)(shi)(shi)密(mi)度(du)(du)測(ce)(ce)試儀(yi)測(ce)(ce)試的(de)(de)振(zhen)實(shi)(shi)(shi)密(mi)度(du)(du)是什么？振(zhen)實(shi)(shi)(shi)密(mi)度(du)(du)測(ce)(ce)試儀(yi)是用來測(ce)(ce)量(liang)振(zhen)石(shi)密(mi)度(du)(du)的(de)(de)專用儀(yi)器(qi)，振(zhen)實(shi)(shi)(shi)密(mi)度(du)(du)（又稱(cheng)密(mi)充堆積(ji)(ji)密(mi)度(du)(du)、緊堆密(mi)度(du)(du))是粉(fen)(fen)(fen)體(ti)質(zhi)量(liang)其中(zhong)一個重(zhong)(zhong)要指(zhi)標(biao)，振(zhen)實(shi)(shi)(shi)密(mi)度(du)(du)測(ce)(ce)量(liang)，是指(zhi)將(jiang)一定量(liang)的(de)(de)粉(fen)(fen)(fen)體(ti)裝入容(rong)器(qi)中(zhong)，在一定條件(jian)下規律振(zhen)動(dong)，盡量(liang)壓縮顆粒之間(jian)的(de)(de)空(kong)隙，達(da)到顆粒之間(jian)的(de)(de)空(kong)隙無法在縮小的(de)(de)程度(du)(du)。當容(rong)器(qi)中(zhong)粉(fen)(fen)(fen)體(ti)體(ti)積(ji)(ji)不再減少(shao)，讀出粉(fen)(fen)(fen)體(ti)的(de)(de)體(ti)積(ji)(ji)，然(ran)后(hou)用粉(fen)(fen)(fen)末(mo)的(de)(de)重(zhong)(zhong)量(liang)除以該(gai)體(ti)積(ji)(ji)就(jiu)得(de)到振(zhen)實(shi)(shi)(shi)后(hou)的(de)(de)密(mi)度(du)(du)。振(zhen)實(shi)(shi)(shi)密(mi)度(du)(du)測(ce)(ce)試儀(yi)測(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)振(zhen)實(shi)(shi)(shi)密(mi)度(du)(du)是對(dui)于表征催(cui)化(hua)劑(ji)、發泡(pao)材(cai)料、絕緣材(cai)料、陶瓷、粉(fen)(fen)(fen)末(mo)冶金和其它工(gong)業(ye)生產品都是必(bi)要的(de)(de)，尤其是電池行...

12

2022-4

四探針測試儀為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率

四探針測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)為解決四探針法測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)超低阻(zu)材(cai)料方(fang)阻(zu)及電阻(zu)率(lv)，可以(yi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)到1uΩ方(fang)阻(zu)值，采用高精度AD芯片控(kong)制(zhi)，恒流輸出，結構合理、質量(liang)(liang)輕(qing)便(bian)，運輸安全、使用方(fang)便(bian)；適(shi)用于(yu)生(sheng)產企業、高等(deng)院(yuan)校(xiao)、科研部門，是(shi)檢驗和分(fen)析導體材(cai)料和半導體材(cai)料質量(liang)(liang)的一種重要(yao)的工(gong)具。本儀(yi)器(qi)配(pei)(pei)置各類(lei)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)裝置可以(yi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)不同材(cai)料。液晶(jing)顯示，無需(xu)人工(gong)計(ji)算，并帶(dai)有溫度補償功能，電阻(zu)率(lv)單位(wei)自動(dong)(dong)選(xuan)擇，儀(yi)器(qi)自動(dong)(dong)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)并根據(ju)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)結果自動(dong)(dong)轉(zhuan)換量(liang)(liang)程，無需(xu)人工(gong)多次和重復設置。選(xuan)配(pei)(pei)：配(pei)(pei)備軟件可以(yi)由(you)電腦(nao)操控(kong)，并保(bao)存和打印數(shu)據(ju)，自動(dong)(dong)生(sheng)成報表；四探針測(ce)(ce)(ce)...

一个人看的www视频免费观看_三男三女换着曰_人妻无码久久中文字幕专区_无码人妻丰满熟妇区五十路