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簡(jian)要描述:四(si)探針方阻(zu)(zu)電(dian)阻(zu)(zu)率(lv)測(ce)試儀的銷售,按照硅片電(dian)阻(zu)(zu)率(lv)測(ce)量的標(biao)準(zhun)(zhun)(ASTM F84)及(ji)標(biao)準(zhun)(zhun)設(she)(she)計制(zhi)造(zao)該儀器設(she)(she)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶(jing)電(dian)阻(zu)(zu)率(lv)測(ce)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺(zang)單晶(jing)電(dian)阻(zu)(zu)率(lv)測(ce)定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺(zang)單晶(jing)電(dian)阻(zu)(zu)率(lv)測(ce)定直流四(si)探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biao)準(zhun)(zhun),本(ben)機(ji)配置232電(dian)腦(nao)接口及(ji)US
品牌 | ROOKO/瑞柯 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 醫療衛生,農業,能源,印刷包裝 |
四探針方阻電阻率測試儀的銷售
按照硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,本機配置232電腦接口及USB兩種接口,本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量,更加準確.
四探針方阻電阻率測試儀的銷售
本儀器(qi)本儀器(qi)采(cai)用四探針單電(dian)測(ce)(ce)量(liang)(liang)法適用于生產企業、高(gao)等院校、科研部(bu)門,是檢(jian)驗和(he)分析導體材(cai)料(liao)(liao)和(he)半導體材(cai)料(liao)(liao)質量(liang)(liang)的一種重要的工(gong)具。本儀器(qi)配置(zhi)各類測(ce)(ce)量(liang)(liang)裝置(zhi)可以測(ce)(ce)試(shi)不(bu)同材(cai)料(liao)(liao)。液晶(jing)顯(xian)示,無需人工(gong)計(ji)算,并(bing)帶有溫度補償功能,電(dian)阻率(lv)單位自動選(xuan)擇,儀器(qi)自動測(ce)(ce)量(liang)(liang)并(bing)根據測(ce)(ce)試(shi)結果自動轉換量(liang)(liang)程,無需人工(gong)多次和(he)重復設置(zhi)。采(cai)用高(gao)精度AD芯片控(kong)制,恒流輸(shu)出,結構合(he)理(li)、質量(liang)(liang)輕便(bian),運輸(shu)安全(quan)、使用方便(bian);選(xuan)配:配備(bei)軟(ruan)件可以由電(dian)腦操控(kong),并(bing)保存(cun)和(he)打印數(shu)據,自動生成報表;本儀器采(cai)用4.3吋(cun)大液晶(jing)屏幕(mu)顯(xian)(xian)示,同時(shi)顯(xian)(xian)示液晶(jing)顯(xian)(xian)示:電(dian)阻、電(dian)阻率、方阻、溫度(du)、單位(wei)換算、溫度(du)系數、電(dian)流、電(dian)壓、探針(zhen)形狀(zhuang)、探針(zhen)間(jian)距、厚度(du) 、電導率(lv),配置不同(tong)的測(ce)試(shi)(shi)(shi)治具可以滿足不同(tong)材料的測(ce)試(shi)(shi)(shi)要求(qiu)。測(ce)試(shi)(shi)(shi)治具可以根據(ju)產品及(ji)測(ce)試(shi)(shi)(shi)項目要求(qiu)選購.
規格型號(hao) | FT-331 | FT-332 | FT-333 | FT-334 | FT-335 | FT-336 |
1.方塊電阻范(fan)圍 | 10-4~2×105Ω/□ | 10-4~2×103Ω/□ | 10-3~2×105Ω/□ | 10-3~2×103Ω/□ | 10-2~2×105Ω/□ | 10-2~2×103Ω/□ |
2.電(dian)阻率范圍(wei) | 10-5×106cm | 10-5×104-cm | 10-4~2×106Ω-cm | 10-4~2×104-cm | 10-3~2×106Ω-cm | 10-3~2×104-cm |
3.測試電流范圍 | 0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 10μA,100µA,1mA,10mA, 100 mA | 0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA |
4.電流(liu)精度(du) | ±0.1%讀數 | ±0.2%讀數 | ±0.2%讀數 | ±0.3%讀數 | ±0.3%讀數 | ±0.3%讀(du)數 |
5.電阻精度 | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% |
6.顯(xian)示讀數(shu) | 液晶顯示:電(dian)阻(zu)(zu)(zu)、電(dian)阻(zu)(zu)(zu)率、方(fang)阻(zu)(zu)(zu)、溫度、單位換算、溫度系(xi)數(shu)、電(dian)流、電(dian)壓、探(tan)針形狀、探(tan)針間距、厚度 、電導率 | |||||
7.測試方式 | 普通單電測量 | |||||
8.工(gong)作(zuo)電源 | 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W | |||||
9.整機不確定性誤差 | ≤4%(標準樣片結(jie)果) | |||||
10.選購功能 | 選購(gou)1.pc軟件(jian); 選購(gou)2.方形探(tan)頭; 選購(gou)3.直線形探(tan)頭; 選購(gou)4.測(ce)試平臺 |
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