方阻測試儀-PCB銅箔膜四探針方阻電阻率測試儀

按照硅(gui)片電(dian)(dian)(dian)阻率測(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)標(biao)準(zhun)(zhun)（ASTM F84）及標(biao)準(zhun)(zhun)設計(ji)制造該儀器設計(ji)符合GB/T 1551-2009 《硅(gui)單晶電(dian)(dian)(dian)阻率測(ce)(ce)定(ding)(ding)方法(fa)》、GB/T 1551-1995《硅(gui)、鍺單晶電(dian)(dian)(dian)阻率測(ce)(ce)定(ding)(ding)直流(liu)(liu)兩探(tan)(tan)(tan)針法(fa)》、GB/T 1552-1995《硅(gui)、鍺單晶電(dian)(dian)(dian)阻率測(ce)(ce)定(ding)(ding)直流(liu)(liu)四探(tan)(tan)(tan)針法(fa)》并(bing)參考美(mei)國 A.S.T.M 標(biao)準(zhun)(zhun)，本機配置(zhi)232電(dian)(dian)(dian)腦(nao)接口(kou)及USB兩種接口(kou)，本機采用范(fan)德堡測(ce)(ce)量(liang)(liang)原(yuan)理能改善樣品(pin)因(yin)幾何尺寸、邊界效應、探(tan)(tan)(tan)針不(bu)等(deng)距和(he)機械游移等(deng)外部因(yin)素對測(ce)(ce)量(liang)(liang)結(jie)果的(de)影響及誤差，比市場(chang)上其他普通的(de)四探(tan)(tan)(tan)針測(ce)(ce)試(shi)方法(fa)更(geng)加(jia)完善和(he)進步,特別是方塊電(dian)(dian)(dian)阻值(zhi)較小的(de)產品(pin)測(ce)(ce)量(liang)(liang)，更(geng)加(jia)準(zhun)(zhun)確.

本(ben)儀器本(ben)儀器采用(yong)(yong)四(si)探針(zhen)單電測(ce)(ce)量法適用(yong)(yong)于生產(chan)(chan)企(qi)業、高等院校(xiao)、科(ke)研(yan)部(bu)門，是檢驗和分析導(dao)體材料(liao)(liao)和半導(dao)體材料(liao)(liao)質量的(de)一種重要的(de)工(gong)具。本(ben)儀器配(pei)置(zhi)(zhi)各類測(ce)(ce)量裝置(zhi)(zhi)可以(yi)(yi)測(ce)(ce)試(shi)不(bu)同材料(liao)(liao)。液晶顯示，無需人工(gong)計(ji)算，并帶有(you)溫度(du)補償(chang)功能，電阻(zu)率(lv)單位(wei)自(zi)動選(xuan)(xuan)擇(ze)，儀器自(zi)動測(ce)(ce)量并根據(ju)測(ce)(ce)試(shi)結(jie)(jie)果自(zi)動轉(zhuan)換(huan)(huan)量程(cheng)，無需人工(gong)多次和重復設置(zhi)(zhi)。采用(yong)(yong)高精度(du)AD芯(xin)片(pian)控制，恒(heng)流(liu)(liu)輸出，結(jie)(jie)構(gou)合理、質量輕便，運輸安全、使用(yong)(yong)方便；選(xuan)(xuan)配(pei)：配(pei)備軟件可以(yi)(yi)由電腦(nao)操控，并保存和打印數據(ju)，自(zi)動生成報表；本(ben)儀器采用(yong)(yong)4.3吋(cun)大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻(zu)、電阻(zu)率(lv)、方阻(zu)、溫度(du)、單位(wei)換(huan)(huan)算、溫度(du)系數、電流(liu)(liu)、電壓、探針(zhen)形(xing)狀、探針(zhen)間距、厚度(du) 、電導(dao)率(lv)，配(pei)置(zhi)(zhi)不(bu)同的(de)測(ce)(ce)試(shi)治具可以(yi)(yi)滿足(zu)不(bu)同材料(liao)(liao)的(de)測(ce)(ce)試(shi)要求。測(ce)(ce)試(shi)治具可以(yi)(yi)根據(ju)產(chan)(chan)品及測(ce)(ce)試(shi)項目(mu)要求選(xuan)(xuan)購.

方阻測試儀-PCB銅箔膜四探針方阻電阻率測試儀

規格型號

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方塊電阻范圍

10-5～2×105Ω/□

10-4～2×103Ω/□

10-3～2×105Ω/□

10-3～2×103Ω/□

10-2～2×105Ω/□

10-2～2×103Ω/□

2.電阻率范圍

10-6×106Ω-cm

10-5×104Ω-cm

10-4～2×106Ω-cm

10-4～2×104-cm

10-3～2×106Ω-cm

10-3～2×104-cm

3.測試電流范圍

0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

10μA，100μA，1mA，10mA，

100 mA

0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度

±0.1%讀數

±0.2%讀數

±0.2%讀數

±0.3%讀(du)數

±0.3%讀(du)數

±0.3%讀數(shu)

5.電阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.顯示讀數

液晶顯(xian)示：電阻、電阻率(lv)、方阻、溫度、單(dan)位換算、溫度系數(shu)、電流、電壓(ya)、探(tan)針(zhen)(zhen)形狀、探(tan)針(zhen)(zhen)間距、厚度 、電導率(lv)

7.測試方式

普通單電測量

8.工作電源

輸入(ru): AC 220V±10% ,50Hz&nbsp; 功 耗：<30W

9.整機不(bu)確定(ding)性誤差

≤4%（標(biao)準樣片結果(guo)）

10.選購功能

選購1.pc軟件(jian)； 選購2.方(fang)形(xing)探(tan)(tan)頭； 選購3.直線形(xing)探(tan)(tan)頭； 選購4.測試(shi)平臺

11.測試探頭

探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)間距選(xuan)購(gou)：1mm；2mm；3mm三種規格(ge); 探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)材(cai)質選(xuan)購(gou)：碳化(hua)鎢針(zhen)(zhen);白(bai)鋼針(zhen)(zhen)；鍍金磷銅半球(qiu)形針(zhen)(zhen)

ROOKO/瑞(rui)柯品(pin)牌，來自瑞(rui)柯儀(yi)器(qi)公(gong)司(si)，一個專注于改變人(ren)們生(sheng)活方式和品(pin)質的企業.

專(zhuan)業與(yu)精致(zhi)并重；與(yu)智慧之(zhi)原(yuan)