導電涂層四探針方阻電阻率測試儀

按照硅(gui)片(pian)電(dian)(dian)(dian)阻率測(ce)量的標準(zhun)（ASTM F84）及(ji)標準(zhun)設計制造該儀器(qi)設計符(fu)合(he)(he)GB/T 1551-2009 《硅(gui)單晶(jing)電(dian)(dian)(dian)阻率測(ce)定方(fang)法(fa)(fa)(fa)》、GB/T 1551-1995《硅(gui)、鍺單晶(jing)電(dian)(dian)(dian)阻率測(ce)定直流兩探(tan)針法(fa)(fa)(fa)》、GB/T 1552-1995《硅(gui)、鍺單晶(jing)電(dian)(dian)(dian)阻率測(ce)定直流四探(tan)針法(fa)(fa)(fa)》并參(can)考美(mei)國 A.S.T.M 標準(zhun)，本機配置232電(dian)(dian)(dian)腦接口(kou)及(ji)USB兩種接口(kou)，本機結合(he)(he)采(cai)用范德堡測(ce)量原理能改善樣品因(yin)(yin)幾何(he)尺寸(cun)、邊界效應、探(tan)針不等(deng)距和(he)機械游移等(deng)外部(bu)因(yin)(yin)素(su)對測(ce)量結果的影響及(ji)誤(wu)差，比(bi)市場(chang)上其他普通(tong)的四探(tan)針測(ce)試方(fang)法(fa)(fa)(fa)更(geng)加完善和(he)進步,特別是方(fang)塊電(dian)(dian)(dian)阻值較(jiao)小的產品測(ce)量，更(geng)加準(zhun)確(que).

導電涂層四探針方阻電阻率測試儀

本儀器(qi)本儀器(qi)采(cai)用(yong)四(si)探(tan)針單(dan)電(dian)(dian)測(ce)量法(fa)適用(yong)于生產(chan)企業、高等院(yuan)校、科研(yan)部門，是檢驗和分(fen)析導體材(cai)料(liao)和半導體材(cai)料(liao)質(zhi)量的(de)一種重要(yao)的(de)工具。本儀器(qi)配置(zhi)各(ge)類測(ce)量裝置(zhi)可(ke)以(yi)測(ce)試(shi)不(bu)同(tong)材(cai)料(liao)。液晶(jing)顯(xian)示，無(wu)需人(ren)工計算，并(bing)(bing)(bing)帶有溫(wen)度補償(chang)功能，電(dian)(dian)阻率單(dan)位自動選(xuan)擇(ze)，儀器(qi)自動測(ce)量并(bing)(bing)(bing)根(gen)據測(ce)試(shi)結果自動轉(zhuan)換量程，無(wu)需人(ren)工多次(ci)和重復設置(zhi)。采(cai)用(yong)高精度AD芯片控制，恒(heng)流(liu)輸出，結構合理、質(zhi)量輕便，運輸安全(quan)、使用(yong)方便；選(xuan)配：配備(bei)軟件可(ke)以(yi)由電(dian)(dian)腦操控，并(bing)(bing)(bing)保存和打印數據，自動生成報表(biao)；本儀器(qi)采(cai)用(yong)4.3吋大液晶(jing)屏幕(mu)顯(xian)示，同(tong)時顯(xian)示液晶(jing)顯(xian)示：電(dian)(dian)阻、電(dian)(dian)阻率、方阻、溫(wen)度、單(dan)位換算、溫(wen)度系數、電(dian)(dian)流(liu)、電(dian)(dian)壓、探(tan)針形狀、探(tan)針間距(ju)、厚(hou)度 、電(dian)(dian)導率，配置(zhi)不(bu)同(tong)的(de)測(ce)試(shi)治(zhi)具可(ke)以(yi)滿足不(bu)同(tong)材(cai)料(liao)的(de)測(ce)試(shi)要(yao)求。測(ce)試(shi)治(zhi)具可(ke)以(yi)根(gen)據產(chan)品(pin)及測(ce)試(shi)項目要(yao)求選(xuan)購(gou).

參數資料

1.方塊電阻范(fan)圍：10-5～2×105Ω/□

2.電阻(zu)率范圍：10-6～2×106Ω-cm

3.測(ce)試電流范圍(wei)：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.1%讀數

5.電(dian)阻精(jing)度：≤0.3%

6.顯示讀數(shu)：液晶(jing)顯示：電(dian)阻(zu)、電(dian)阻(zu)率(lv)、方阻(zu)、溫(wen)度(du)、單(dan)位(wei)換(huan)算(suan)、溫(wen)度(du)系數(shu)、電(dian)流、電(dian)壓、探(tan)針(zhen)形狀、探(tan)針(zhen)間距、厚度(du) 、電(dian)導率(lv)

7.測(ce)試方式: 普通(tong)單電測(ce)量(liang)

8.工(gong)作電源: 輸(shu)入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機不(bu)確(que)定性(xing)誤(wu)差: ≤4%（標準樣片結果）

10.選(xuan)購(gou)功能: 選(xuan)購(gou)1.pc軟件； 選(xuan)購(gou)2.方(fang)形探頭； 選(xuan)購(gou)3.直線形探頭； 選(xuan)購(gou)4.測試平臺

11.測試探(tan)頭： &nbsp; 探(tan)針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探(tan)針材質(zhi)選購：碳(tan)化鎢(wu)針;白鋼針；鍍金磷(lin)銅半球形(xing)針

ROOKO/瑞柯品牌，來自瑞柯儀(yi)器(qi)公司，一個專(zhuan)注于改變人(ren)們生(sheng)活方式和(he)品質的企業.

專業與(yu)精致并重；與(yu)智慧之原