普通四探針方阻電阻率測試儀售后

按(an)照(zhao)硅片電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)(ce)(ce)(ce)量的標準(zhun)（ASTM F84）及(ji)標準(zhun)設(she)計(ji)制造該儀器設(she)計(ji)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)(ce)(ce)(ce)定方法(fa)》、GB/T 1551-1995《硅、鍺(zang)單晶電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)(ce)(ce)(ce)定直流(liu)兩(liang)探(tan)針(zhen)(zhen)法(fa)》、GB/T 1552-1995《硅、鍺(zang)單晶電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)(ce)(ce)(ce)定直流(liu)四探(tan)針(zhen)(zhen)法(fa)》并參(can)考美國 A.S.T.M 標準(zhun)，本(ben)(ben)機(ji)(ji)配置232電(dian)(dian)(dian)腦接口及(ji)USB兩(liang)種接口，本(ben)(ben)機(ji)(ji)結合采用范德堡測(ce)(ce)(ce)(ce)量原(yuan)理(li)能(neng)改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探(tan)針(zhen)(zhen)不等距(ju)和機(ji)(ji)械游移(yi)等外(wai)部因素對測(ce)(ce)(ce)(ce)量結果的影響及(ji)誤差(cha)，比(bi)市場上其他普通(tong)的四探(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)試方法(fa)更加完(wan)善和進步(bu),特別(bie)是(shi)方塊電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值較小的產品測(ce)(ce)(ce)(ce)量，更加準(zhun)確.

普通四探針方阻電阻率測試儀售后

本(ben)儀器(qi)本(ben)儀器(qi)采(cai)用(yong)(yong)四探針(zhen)單電(dian)測(ce)(ce)量(liang)法適用(yong)(yong)于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和(he)(he)分析導(dao)體材(cai)料(liao)和(he)(he)半導(dao)體材(cai)料(liao)質量(liang)的一種(zhong)重要(yao)的工(gong)具(ju)。本(ben)儀器(qi)配置(zhi)各類(lei)測(ce)(ce)量(liang)裝置(zhi)可(ke)以測(ce)(ce)試(shi)(shi)不(bu)同(tong)(tong)材(cai)料(liao)。液晶(jing)顯(xian)示(shi)(shi)，無需人工(gong)計算，并(bing)帶有溫(wen)度(du)補(bu)償(chang)功能，電(dian)阻(zu)率單位自動(dong)選擇，儀器(qi)自動(dong)測(ce)(ce)量(liang)并(bing)根據(ju)測(ce)(ce)試(shi)(shi)結果(guo)自動(dong)轉換(huan)量(liang)程，無需人工(gong)多次和(he)(he)重復(fu)設置(zhi)。采(cai)用(yong)(yong)高精度(du)AD芯片控制(zhi)，恒流輸(shu)出，結構合理、質量(liang)輕便(bian)，運(yun)輸(shu)安全、使用(yong)(yong)方便(bian)；選配：配備軟(ruan)件可(ke)以由電(dian)腦(nao)操控，并(bing)保(bao)存(cun)和(he)(he)打印數據(ju)，自動(dong)生成(cheng)報表；本(ben)儀器(qi)采(cai)用(yong)(yong)4.3吋大液晶(jing)屏幕顯(xian)示(shi)(shi)，同(tong)(tong)時(shi)顯(xian)示(shi)(shi)液晶(jing)顯(xian)示(shi)(shi)：電(dian)阻(zu)、電(dian)阻(zu)率、方阻(zu)、溫(wen)度(du)、單位換(huan)算、溫(wen)度(du)系(xi)數、電(dian)流、電(dian)壓、探針(zhen)形狀、探針(zhen)間距、厚度(du) 、電(dian)導(dao)率，配置(zhi)不(bu)同(tong)(tong)的測(ce)(ce)試(shi)(shi)治(zhi)具(ju)可(ke)以滿足不(bu)同(tong)(tong)材(cai)料(liao)的測(ce)(ce)試(shi)(shi)要(yao)求。測(ce)(ce)試(shi)(shi)治(zhi)具(ju)可(ke)以根據(ju)產品及測(ce)(ce)試(shi)(shi)項目要(yao)求選購.

參數資料

1.方塊(kuai)電(dian)阻范圍(wei)：10-4～2×103Ω/□

2.電阻(zu)率范(fan)圍：10-5～2×104Ω-cm

3.測試(shi)電流范圍：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度(du)：±0.2%讀數

5.電阻(zu)精度：≤0.3%

6.顯(xian)示讀數(shu)：液晶顯(xian)示：電(dian)阻、電(dian)阻率(lv)、方阻、溫(wen)度(du)、單位換算、溫(wen)度(du)系數(shu)、電(dian)流、電(dian)壓、探針形狀、探針間距、厚度(du) 、電(dian)導率(lv)

7.測試方式: 普通單電測量(liang)

8.工(gong)作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz ; 功(gong) 耗(hao)：<30W

9.整機不(bu)確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果）

10.選(xuan)(xuan)(xuan)購功能: 選(xuan)(xuan)(xuan)購1.pc軟件(jian)； 選(xuan)(xuan)(xuan)購2.方形探頭(tou)； 選(xuan)(xuan)(xuan)購3.直線形探頭(tou)； 選(xuan)(xuan)(xuan)購4.測試平臺

11.測(ce)試探(tan)頭：   探(tan)針(zhen)(zhen)間(jian)距選(xuan)購：1mm；2mm；3mm三種規(gui)格(ge); 探(tan)針(zhen)(zhen)材質選(xuan)購：碳(tan)化鎢(wu)針(zhen)(zhen);白鋼針(zhen)(zhen)；鍍金磷銅半球形(xing)針(zhen)(zhen)