導電性薄膜方(fang)阻測試儀測定方(fang)法

  標準設計(ji)制造該儀器設計(ji)符合GB/T 1551-2009 《硅(gui)單晶電阻(zu)率測(ce)定(ding)方法》、GB/T 1551-1995《硅(gui)、鍺單晶電阻(zu)率測(ce)定(ding)直(zhi)流兩探針(zhen)法》

顯(xian)示讀數：液晶(jing)顯示：電(dian)阻、電(dian)阻率、方(fang)阻、溫度、單位換算、溫度系數、電(dian)流、電(dian)壓、探(tan)針形狀、探(tan)針間距、厚度 、電導率

測試方(fang)式: 普通單電測量

工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗(hao)：<30W

整(zheng)機不確(que)定性誤差(cha): ≤4%（標準樣(yang)片(pian)結果(guo)）

選(xuan)購功能: 選(xuan)購1.pc軟件； 選(xuan)購2.方形(xing)探(tan)頭； 選(xuan)購3.直(zhi)線形(xing)探(tan)頭； 選(xuan)購4.測試(shi)平臺(tai)

測試探頭：   探針間距選購(gou)：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質選購(gou)：碳化(hua)鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

導電性薄膜(mo)方阻測(ce)試儀測(ce)定(ding)方法(fa)

配置(zhi)各類(lei)測(ce)量裝(zhuang)置(zhi)可(ke)以測(ce)試(shi)不同材(cai)料。液(ye)晶顯示(shi)，無(wu)需人(ren)工計算(suan)，并(bing)帶有溫度(du)補償功能，電阻率單(dan)位自(zi)動選擇，儀器自(zi)動測(ce)量并(bing)根據測(ce)試(shi)結(jie)果自(zi)動轉換量程，無(wu)需人(ren)工多次和重復設置(zhi)。采用(yong)高(gao)精度(du)AD芯片控制，恒流輸出，結(jie)構合理(li)、質量輕便，運輸安全、使用(yong)方(fang)便；選配：配備軟件可(ke)以由電腦(nao)操控，并(bing)保存和打印數(shu)據，自(zi)動生成報表