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硅片四探針電導率測試儀操作方法

簡要描述:硅(gui)片四探針電(dian)導率測(ce)(ce)試(shi)儀操(cao)作方法,參(can)照標準:硅(gui)片電(dian)阻(zu)率測(ce)(ce)量的標準(ASTM F84).GB/T 1551-2009 《硅(gui)單晶電(dian)阻(zu)率測(ce)(ce)定(ding)方法》.

  • 產品型號:
  • 廠(chang)商性質(zhi):生產廠家
  • 更新時間:2023-05-17
  • 訪(fang)  問  量:2221
詳細(xi)介紹
品牌ROOKO/瑞柯產地類別國產
應用領域醫療衛生,環保,食品,生物產業,農業

硅片四探針電導率測試儀操作方法

 電阻(zu)率所針(zhen)對的(de)對象是導電或電阻(zu)材(cai)(cai)料(liao),一般是通過測定(ding)特定(ding)形狀的(de)材(cai)(cai)料(liao)電阻(zu)

值(zhi)后計(ji)算(suan)得出。對于功能(neng)器件(jian)一般只測量其(qi)電(dian)阻值(zhi)。而(er)環境(溫度、濕度、氣氛)

或(huo)材料(liao)(liao)狀態對電阻(zu)或(huo)電阻(zu)率的影響測量(liang)則(ze)一(yi)般是(shi)將材料(liao)(liao)或(huo)器件放于特定的環境之

中,通過(guo)改變(bian)環境參數測定電阻或電阻率的(de)變(bian)化(hua)。上述所(suo)有操(cao)作歸結為一點,即電

阻的(de)測(ce)量(liang)。由(you)于(yu)目前還沒(mei)有(you)不(bu)使用電(dian)而(er)間接測(ce)量(liang)電(dian)阻的(de)方(fang)法,因此電(dian)阻與其它

物理參(can)數測(ce)量(liang)相比的zui突出特點是必須將被(bei)測(ce)材(cai)料或器件連接在電路之中,電路之

中的導線、導線接(jie)頭或器件觸點接(jie)觸電(dian)阻、測(ce)量儀表(biao)的內阻以(yi)及與被測(ce)電(dian)阻間(jian)的連

接關系(xi),阻值比例等多種因素(su)都會對(dui)影響測(ce)量結果的度。在許多情況下,測(ce)量

誤差是不可忽略的。

硅片四探針電導率測試儀操作方法

1.方塊(kuai)電(dian)阻范(fan)圍(wei):10-3~2×103Ω/□

2.電阻率(lv)范(fan)圍:10-4~2×104Ω-cm

3.測試電流范(fan)圍:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

4.電流精(jing)度:±0.3%讀數

5.電阻精度:≤0.5%

6.顯(xian)示讀數(shu):液(ye)晶顯示:電(dian)阻、電(dian)阻率、方阻、溫度(du)、單位換算、溫度(du)系數、電(dian)流、電(dian)壓、探(tan)針(zhen)形狀、探(tan)針(zhen)間距、厚度(du) 、電導率

7.測試方(fang)式(shi): 普通單(dan)電測量(liang)

8.工(gong)作電源(yuan): 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗(hao):<30W

9.整(zheng)機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結(jie)果)

10.選(xuan)購(gou)(gou)功能: 選(xuan)購(gou)(gou)1.pc軟件; 選(xuan)購(gou)(gou)2.方形探頭(tou); 選(xuan)購(gou)(gou)3.直線形探頭(tou); 選(xuan)購(gou)(gou)4.測試平(ping)臺

11.測試探(tan)頭:   探(tan)針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規格; 探(tan)針材質選購:碳(tan)化(hua)鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半(ban)球形針

選配:配備(bei)軟件(jian)可以由電腦(nao)操控,并保存和(he)打印數據,自動(dong)生成報表;本(ben)儀器(qi)采(cai)用4.3吋大液(ye)晶(jing)(jing)屏幕顯示(shi),同時顯示(shi)液(ye)晶(jing)(jing)顯示(shi):電(dian)(dian)阻(zu)、電(dian)(dian)阻(zu)率、方阻(zu)、溫度(du)、單位換算、溫度(du)系(xi)數、電(dian)(dian)流(liu)、電(dian)(dian)壓、探(tan)(tan)針(zhen)形狀、探(tan)(tan)針(zhen)間距(ju)、厚度(du) 、電導率,配(pei)置(zhi)不(bu)同(tong)的(de)測試(shi)治具可以滿足(zu)不(bu)同(tong)材料的(de)測試(shi)要(yao)求。測試(shi)治具可以根據(ju)產品及測試(shi)項目要(yao)求選購.

 


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