多功能四探針/四點探針測試(shi)儀本(ben)儀(yi)器采(cai)用4.3吋(cun)大液晶(jing)屏(ping)幕(mu)顯(xian)(xian)示，同(tong)時(shi)顯(xian)(xian)示液晶(jing)顯(xian)(xian)示：電阻、電阻率、方阻、溫(wen)度(du)、單位換算(suan)、溫(wen)度(du)系數、電流、電壓、探(tan)針形(xing)狀、探(tan)針間距、厚(hou)度(du) 、電導率，配置不(bu)同(tong)的測(ce)(ce)試(shi)(shi)治具可以滿足不(bu)同(tong)材料的測(ce)(ce)試(shi)(shi)要求。測(ce)(ce)試(shi)(shi)治具可以根據產品及測(ce)(ce)試(shi)(shi)項(xiang)目要求選購(gou).

FT-361超低阻雙(shuang)電四探針(zhen)測試儀

一、概述(shu)：本(ben)品為(wei)解決(jue)四(si)探針(zhen)法測(ce)(ce)試超低阻(zu)(zu)材(cai)料方(fang)阻(zu)(zu)及電阻(zu)(zu)率，zui小可以測(ce)(ce)試到1uΩ方(fang)阻(zu)(zu)值(zhi)，是(shi)目前同行(xing)業(ye)中能測(ce)(ce)量(liang)(liang)到的(de)zui小值(zhi)，采用(yong)(yong)高(gao)精度AD芯片控制(zhi)，恒流輸出，結(jie)構合理、質量(liang)(liang)輕便，運輸安(an)全、使用(yong)(yong)方(fang)便；適用(yong)(yong)于生產企業(ye)、高(gao)等(deng)院校、科(ke)研部門(men)，是(shi)檢驗(yan)和(he)分析導體材(cai)料和(he)半導體材(cai)料質量(liang)(liang)的(de)一種重(zhong)要(yao)的(de)工具(ju)。本(ben)儀器配置(zhi)各類測(ce)(ce)量(liang)(liang)裝置(zhi)可以測(ce)(ce)試不(bu)同材(cai)料。液晶顯示(shi)，無(wu)(wu)需人(ren)工計算，并帶有溫(wen)度補償功能，電阻(zu)(zu)率單位自(zi)動選擇，儀器自(zi)動測(ce)(ce)量(liang)(liang)并根(gen)據測(ce)(ce)試結(jie)果自(zi)動轉換量(liang)(liang)程，無(wu)(wu)需人(ren)工多次和(he)重(zhong)復設(she)置(zhi)。選配：配備軟(ruan)件可以由電腦(nao)操控，并保存(cun)和(he)打印(yin)數據，自(zi)動生成(cheng)報表；

多功能四探針/四點探針測試儀(yi) 很流(liu)源輸出(chu)，可同時顯示電(dian)阻、電(dian)阻率、方阻、溫(wen)度(du)(du)、單位換算、溫(wen)度(du)(du)系數(shu)、電(dian)流(liu)、電(dian)壓、探針形狀、探針間距、厚度(du)(du) 、電(dian)導率；人(ren)體(ti)工(gong)程學設計原(yuan)理，四探針探頭配合測試平臺使用；配備(bei)軟(ruan)件可以由電(dian)腦操控，并保存(cun)和打印數(shu)據，自動生成報表(biao)；

多功能四(si)探針(zhen)/四(si)點探針(zhen)測試儀 很流(liu)(liu)源(yuan)輸出，可(ke)(ke)同時顯示電(dian)(dian)阻(zu)、電(dian)(dian)阻(zu)率(lv)、方(fang)阻(zu)、溫(wen)(wen)度(du)、單(dan)位(wei)換算、溫(wen)(wen)度(du)系數、電(dian)(dian)流(liu)(liu)、電(dian)(dian)壓(ya)(ya)、探(tan)針(zhen)形狀、探(tan)針(zhen)間(jian)距(ju)、厚(hou)度(du) 、電(dian)(dian)導率(lv)；人(ren)體(ti)工程學設計原理(li)，四(si)探(tan)針(zhen)探(tan)頭配(pei)合(he)(he)測(ce)(ce)(ce)試平臺(tai)使用(yong)；配(pei)備軟件可(ke)(ke)以(yi)由電(dian)(dian)腦(nao)操控，并保(bao)存和打印數據(ju)，自動生成(cheng)報表；是(shi)運用(yong)直線或(huo)(huo)方(fang)形四(si)探(tan)針(zhen)雙(shuang)位(wei)測(ce)(ce)(ce)量(liang)。該儀器設計符合(he)(he)單(dan)晶硅物理(li)測(ce)(ce)(ce)試方(fang)法標準并參考(kao)美國 A.S.T.M 標準。利用(yong)電(dian)(dian)流(liu)(liu)探(tan)針(zhen)、電(dian)(dian)壓(ya)(ya)探(tan)針(zhen)的(de)變(bian)換，進行(xing)兩次電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)量(liang)，對數據(ju)進行(xing)雙(shuang)電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)分析，自動消除樣品幾何尺寸(cun)、邊(bian)界效應以(yi)及探(tan)針(zhen)不(bu)等(deng)距(ju)和機械游移等(deng)因素對測(ce)(ce)(ce)量(liang)結果的(de)影響(xiang)，它與單(dan)電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)直線或(huo)(huo)方(fang)形四(si)探(tan)針(zhen)相比(bi)，大大提高度(du)，特別是(shi)適(shi)用(yong)于斜置(zhi)式(shi)四(si)探(tan)針(zhen)對于微區的(de)測(ce)(ce)(ce)試。選購：本機還可(ke)(ke)以(yi)配(pei)合(he)(he)各類環境溫(wen)(wen)度(du)試驗箱體(ti)使用(yong)，通過不(bu)同的(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)治具滿足不(bu)同環境溫(wen)(wen)度(du)下測(ce)(ce)(ce)量(liang)方(fang)阻(zu)和電(dian)(dian)阻(zu)率(lv)的(de)需(xu)求.

二(er)、廣泛用于：覆蓋膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo);導(dao)電(dian)(dian)(dian)高分子膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo)，高、低溫電(dian)(dian)(dian)熱(re)膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo);隔熱(re)、防輻射(she)導(dao)電(dian)(dian)(dian)窗膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo) 導(dao)電(dian)(dian)(dian)(屏(ping)蔽)布、裝飾膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo)、裝飾紙;金屬(shu)化標簽(qian)、合金類箔膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo);熔(rong)煉、燒(shao)結、濺射(she)、涂(tu)(tu)覆、涂(tu)(tu)布層，電(dian)(dian)(dian)阻式(shi)、電(dian)(dian)(dian)容式(shi)觸屏(ping)薄膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo);電(dian)(dian)(dian)極涂(tu)(tu)料(liao)(liao)(liao)，其(qi)他半導(dao)體材料(liao)(liao)(liao)、薄膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo)材料(liao)(liao)(liao)方阻測(ce)試硅晶塊、晶片電(dian)(dian)阻率及擴散層(ceng)、外延層(ceng)、ITO導(dao)電(dian)(dian)箔膜、導(dao)電(dian)(dian)橡膠等材(cai)料方塊電(dian)(dian)阻  半(ban)導(dao)體材(cai)料/晶(jing)圓、太(tai)陽能(neng)電池、電子元(yuan)器件(jian)，導(dao)電薄膜(mo)（ITO導(dao)電(dian)膜玻璃等），金屬膜，導(dao)電(dian)漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜(mo)，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率  導(dao)電性(xing)(xing)油漆，導(dao)電性(xing)(xing)糊(hu)狀物，導(dao)電性(xing)(xing)塑料，導(dao)電性(xing)(xing)橡膠，導(dao)電性(xing)(xing)薄(bo)膜，金屬薄(bo)膜，抗靜電材(cai)料， EMI 防護(hu)材(cai)料，導(dao)電性(xing)(xing)纖維，導(dao)電性(xing)(xing)陶瓷等

三、多功能四探針/四點探針測試儀參(can)數資(zi)料(liao)

1.方塊電阻范圍(wei)：10^-6～2×10²Ω/□

2.電阻(zu)率范圍(wei)：10^-7～2×10³Ω-cm

3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA.

4.電流精度(du)：±0.1%讀數

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數：液(ye)晶顯示：電(dian)(dian)(dian)阻、電(dian)(dian)(dian)阻率、方阻、溫(wen)度、單位換算、溫(wen)度系數、電(dian)(dian)(dian)流、電(dian)(dian)(dian)壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電(dian)(dian)(dian)導(dao)率.

7.測試方(fang)式: 雙電測量

8.工作電源(yuan): 輸(shu)入(ru): AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機不確(que)定性(xing)誤差(cha): ≤4%（標(biao)準樣片結果(guo)）

10.選(xuan)購功能: 選(xuan)購1.pc軟件； 2.方形探頭(tou)； 3.直線(xian)形探頭(tou)； 4.測試平臺

11.測試探(tan)頭(tou)：  探(tan)針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探(tan)針材質選購：碳化(hua)鎢針;白(bai)鋼針；鍍金磷銅半球形針

多功能四(si)探(tan)針/四(si)點(dian)探(tan)針測試儀